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]d 摘要 >{w"aJ" F dW2Lvnh!>/ 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 x[eho,6) a*KJjl?k
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建模任务 sRf?JyB |H@1g=q
HCVMqG! d"hW45L 元件倾斜引起的干涉条纹 :=^_N} *mj3 T
Oxhc!9F y6 _,U/9 元件移动引起的干涉条纹 aMycvYzH (cEjC`]
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