o2'^MxKb T 摘要 6gr?#D -F IOL5p*:gz 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 J}zN]|bz LIah'6qR
Y8i'=Po%, X(r$OZ 建模任务 Nqy)jfyex qoZUX3{
FaA'%P@ b=87k 元件倾斜引起的干涉条纹 G~.bi<(v y)//u:l
D MzDV _ :`Sd5b> 元件移动引起的干涉条纹 rjaG{ i bM@8[&ta
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si =% tNbL) VirtualLab Fusion工作流程 B5R/GV S\jIs [Dz −基本源模型[教程视频] >Hd Pcsl L
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] V#Pz`D *K#Ci1Q
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Kk9eJ\ (?ofL|Cg( 文件信息 L"x9O'U @%[ dh@oY
SbYsa w8KVs\/ 应用用例
[j;#w,Wb 进一步阅读 -基于激光的迈克尔逊干涉仪和干涉条纹观测 k62KZ5| D -用于光学测试的Fizeau干涉仪 < |