Y_n/rD> 摘要 sT1OAK\^ 4qDO(YWf 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 hd'QMr[; Jk}3c>^D
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j7_,V?5z 8t=H 元件倾斜引起的干涉条纹 Y{j~;G@Wl Nt\07*`qCr
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5 元件移动引起的干涉条纹 qdk!.A{ 2d|^$$#`
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