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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2020-10-28 09:36
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
Q o =Kqv
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任务/系统说明
A?Wk wf
+u'I0>)S
1qi@uYDug
pb0E@C/R
亮点
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
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•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
iqW1#)3'R
KLC{7"6e)
具体要求:光源
8e0."o.6
IaFr&
nY $tp
m+itno
具体要求:用于准直的消色差透镜
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7~M<cD
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9SMiJad<
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%i)B*9k
2i|B=D(
具体要求:分束器
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3z;_KmM
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nU`Lhh8y
具体要求:参考光路反射镜
&@ 3m-Z
*R% wUi
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N]5m(@h
p$;I'
具体要求:测试光路反射镜
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A\te*G0:S
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OY"6J@[z
具体要求:探测器
P,bd'
c#xP91.m
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结果:3D光线追迹
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`0#H]=$2h
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结果:场追迹
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A~lIa$U$b
'~-IV0v9
结果:移动样品的场追迹结果
_>bRv+RVR
N~,_`=yRx
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通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
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文件&技术信息
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QQ:2987619807
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