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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 Qo =Kqv  
b6E<r>q  
任务/系统说明 A?Wk  w f  
+u'I0>)S  
1 qi@uYDug  
pb0E@C/R  
亮点 ?r_l8  
_8G>&K3T<  
6bBdIqGb}  
A$.fv5${  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 6x=YQwn~  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; iqW1#)3'R  
KLC{7"6e)  
具体要求:光源 8e0."o.6  
IaFr&  
nY $tp  
m+ itno  
具体要求:用于准直的消色差透镜 fa.0I~  
7~M<cD  
8[ry |J  
l.nH?kK<  
9SMiJad<  
amQz^^  
%i)B*9k  
2i|B=D(  
具体要求:分束器 _{~]/k  
3z;_KmM  
@U -$dw'4  
nU`Lhh8y  
具体要求:参考光路反射镜 &@3m -Z  
*R % wUi  
6k?`:QK/sl  
6aOp[-Le  
N]5m(@h  
p$;I'  
具体要求:测试光路反射镜 8Z85D  
A\te*G0:S  
-Cid3~mX3  
OY"6J@[z  
具体要求:探测器 P,bd'  
c#xP91.m  
cjULX+h  
5|$a =UIR  
结果:3D光线追迹 }gf}eH  
A[UP"P~u/  
`0#H]=$2h  
N<z`yV  
结果:场追迹 @LLTB(@wR  
:u%$0p>  
A~lIa$U$b  
'~-IV0v9  
结果:移动样品的场追迹结果 _>bRv+RVR  
N~,_`=yRx  
^&c$[~W  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 )"O{D`uX  
g?q KNY  
文件&技术信息 e&X>F"z2  
9 -jO,l  
e9u@`ZC07  
igDyp0t  
p*;Qz  
QQ:2987619807 %6 =\5>  
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