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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 ({v$!AAv  
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任务/系统说明 yS^";$2Tc  
f=+|e"i #p  
(#k>cA(}  
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亮点 [<\k  
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 "1FPe63\*O  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； {_&'tXL  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； Hbu8gqu  
 X;lL$  
具体要求：光源 =iW!Mq  
'r~,~A I  
,pM~Phmp  
]VtVw^ir  
具体要求：用于准直的消色差透镜 0{^@kxV  
9 js!gJC  
}Qyuy~-&^  
Ydm 0  
2~dUnskyy  
t2skg  
i8iv{e2  
%sxLxx_x!  
具体要求：分束器 sU!h^N$  
q,`"Z)97  
*`2.WF@E)  
 BmR++?L  
具体要求：参考光路反射镜 &|yQwNA*a"  
3 <}\{jT  
%IrR+f+H  
QZ?#ixvJ  
wNo2$>*  
 l r80RL'_  
具体要求：测试光路反射镜 c%y(Z5  
H'KCIqo  
).U\,@[A{  
 h1}U#XV  
具体要求：探测器 tpu2e*n-|  
[.J&@96,b  
 lS@0 $  
\ #<.&`8B  
结果：3D光线追迹 i7$4i|  
W>f q 9  
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z=mH\!  
结果：场追迹 21NGsG  
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SnIH6k0T_  
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结果：移动样品的场追迹结果 U*sjv6*T  
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q4u,pm,@  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 "/e_[_j  
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文件&技术信息 g)?Ol  
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QQ：2987619807 @*?)S{8  
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