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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 GjlA\R^e  
3NRxf8  
任务/系统说明 " '/:Tp)  
~^jdiy5  
$@k[Xh  
 VbR /k,Co  
亮点 .R5[bXxe7  
Vp{e1xpY  
&E|2-)  
 pUtd_8  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； vowU+Y  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； <X9  T}g  
 j/"{tMqQp  
具体要求：光源 v"'Co6fw  
h&Thq52R  
)wkh  
bH+x `]{A  
具体要求：用于准直的消色差透镜 \\;i  
jM`)N d  
A$*#n8 ,  
P2J{ Ml#  
h_Ky2IB$  
0].x8{~o  
"JI FF_  
l(X8 cHAi  
具体要求：分束器 .Cv0Ze  
S |SN3)  
|GPR3%9  
 ShXk\"  
具体要求：参考光路反射镜 :B(F ?9qK  
B&^WRM;7t  
W_k;jy_{9  
52+;j[ ]/O  
e.pm`%5bO  
 ,>"rcd  
具体要求：测试光路反射镜 +Kc1a;  
4dy2m!  
c2M-/ x-:  
 ?v-Y1j  
具体要求：探测器 Hg)5c!F7  
HSq.0vYl6  
TMt,\gTd  
|,zcrOo]  
结果：3D光线追迹 L<'8#J[_5  
Q `$Q(/  
rMDo5Z2  
Lg[v-b=?I  
结果：场追迹 7U=|>)Q0s  
K:}~8 P>^  
HI}$Z =C  
 Uh.XL=wY  
结果：移动样品的场追迹结果 5#jna9Xc  
|~'D8 g:Ak  
+rEqE/QF  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 En@] xvE  
 rEI]{?eoF  
文件&技术信息 Z2z"K<Z W  
$'$#Xn,hU  
 8o' a  
GKPC9;{W  
 x+~IXi>Ig  
QQ：2987619807 xEK+NKTeV  
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