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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 `]&'yt  
A6;[r #C  
任务/系统说明 aO:A pOAO  
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亮点 i&}LuF8  
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; t/]za4w/  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; nrTCq~LO(  
-zH-9N*c  
具体要求:光源 ~4S6c=:  
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xLbF9ASim  
AUU(fy#<  
具体要求:用于准直的消色差透镜 %CrpUx  
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Pi[(xD8  
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lb)i0`AN+  
JkNRXC:  
具体要求:分束器 UXS+GAWU  
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(jh0cy}|]  
具体要求:参考光路反射镜 `LWbL*;Y0  
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pWGIA6&v(  
j+3=&PkA.]  
具体要求:测试光路反射镜 a3_pF~Qx  
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s.!gsCQme  
具体要求:探测器 OFlY"O S[  
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结果:3D光线追迹 #|}EPD9$  
Y#Pg*C8>8  
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bO gVC g  
结果:场追迹 2MKB (;k  
Z1+1>|-iW  
#$-`+P  
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结果:移动样品的场追迹结果 cfW;gFf  
J po(O>\P  
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通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 v1s0kdR,>  
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文件&技术信息 M[ ,:NE4H  
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QQ:2987619807 ,y*|f0&"~  
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