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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 q)YHhH\  
rDc$#  
任务/系统说明 b%VZPKA;  
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 WO^]bR  
亮点 J*^ i=y  
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 Y"m}=\4{  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； `vf]C'  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； ~C?)- ]bF  
 m*KI'~#$%  
具体要求：光源 &nY#G HB  
)cm^;(#pV  
EKmn@S-&P  
#V Z js`d6  
具体要求：用于准直的消色差透镜 bGlr>@;-r  
v <| iN#  
*I k/Vu%;  
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5 <7sVd.  
%Bg>=C)^(1  
JPg^h  
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具体要求：分束器 UcB2Aauji  
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Z)}2bJwA  
 %+C6#cj  
具体要求：参考光路反射镜 OA[fQH#{lX  
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 o9OCgP`Y  
具体要求：测试光路反射镜 c/Li,9cT'  
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 ._&SS,I5VZ  
具体要求：探测器 |jcIn[)=  
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i\o * =+{r  
`9|Uu#x  
结果：3D光线追迹 ]?Q<lMG  
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结果：场追迹 "@Qg]#]JH  
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RE08\gNIt  
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结果：移动样品的场追迹结果 !;Pp)SRzKG  
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通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 Xv 7noq|  
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文件&技术信息 ^szi[Cj  
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 ZM [Z9/S8  
QQ：2987619807  nL[G@1nR  
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