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infotek 2020-10-28 09:36

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 /z,+W9`  
n-lDE}K9%B  
任务/系统说明 E"H> [E  
CH h6Mnw  
ws}>swR,  
MdNV3:[\  
亮点 BtWm ZaKi  
.3,Ow(3l  
Vuo 8[h>  
+@oo8io  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; &]'< M  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; o{QPW  
Op<|Oz$Q|l  
具体要求:光源 6sRKbp|r7  
! XNTk]!  
_RzcMX  
|a Ht6F  
具体要求:用于准直的消色差透镜 !g-19at  
{~d8_%:b  
R_DZJV O  
Os7 3u#!'  
rU1{a" {  
_52BIrAO2  
xSHeP`P^X  
=}AwA5G  
具体要求:分束器 IC7S +v  
YVLaO*( f  
'roZ:NE  
|2~fOyA+  
具体要求:参考光路反射镜 lN^} qg><  
U~8 oE_+  
#G ZGk?  
&ExYul  
Ea*Jl<  
xcYYo'U  
具体要求:测试光路反射镜 0zAj.iG  
aTy&"  
P1 `-OM  
9f4#b8  
具体要求:探测器 =r:-CRq(  
Ci ? +Sl  
' RjFWHAp  
d98ZC+q  
结果:3D光线追迹 93d ht  
Q04iuhDO:  
1vQj` F  
0 .dSP$e  
结果:场追迹 |3MqAvPJ  
K G~fDb  
 :RW0<  
\TrhJ  
结果:移动样品的场追迹结果 %G$KahxV>  
U>^ -Db]  
bgm$<;`U  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 XoaBX2  
H{P"$zj`l  
文件&技术信息 )nS;]7pB@  
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GIDC'  
|T9p#) ec2  
-_ [Z5%B  
QQ:2987619807 e}e\*BL  
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