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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 #lMcAYH,  
/ojx$Um  
任务/系统描述 LU;zpXg\  
bvJ@H Z$  
 Odwf7>  
 &lU\9  
亮点 aV7VbC  
y;CX )!8  
 _cJ)v/]  
!&Q?ASJH  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 LZ_0=Xx%  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 &k,DAx`rN;  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 C{$iuus0  
,9d]-CuP;  
说明：光源 uvJHkAi  
6)0.q|Q  
c_ncx|dUs  
ip<VRC5`5  
说明：透镜系统 SF-E>s!XL  
~}j+~  
G=[<KtWa  
 @@^iN~uf  
说明：样品结构 RtR@wZ2\s  
T5|kO:CbHq  
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, d $"`W2  
说明：探测器 $365VTh"  
q=->) &D%  
Y!oLNGY  
?2#'>B  
结果：3D光线追迹 LA_{[VWYp>  
{ rLgyrj$  
 n"RV!{&  
b4dviYI  
结果：场追迹矩形光栅  '4{=x]K  
m-azd ~r[  
gIz!~I_U  
 Z5(9=8hB/  
结果：场追迹锯齿形光栅 }R 16WY_'  
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文件&技术信息 @k h<b<a4  
fWq*Op.]c  
 MZ$uWm`/  
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QQ：2987619807 -GFZFi  
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