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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 XjYMp3  
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任务/系统描述 YfNN&G4_  
"j.Q*Hazg  
 Urksj:N  
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亮点 f/Z-dM\e  
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 TPY&O{ q  
-W: @3\{  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 C[+?gQJ[9  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 e$mVA}>Ybp  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 h,K&R8S  
cvx"XxE,  
说明：光源 #kJ8 qN  
R1.Yx?  
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z_8Bl2tl  
说明：透镜系统 'uwq^b_  
"`'+@KlE  
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说明：样品结构 ]]5(:>l  
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B E#pHg  
m5hu;>gt  
说明：探测器 }Fu2%L>  
h}S2b@e|  
Q1H.2JXr  
D^{jXNDNO  
结果：3D光线追迹 6S(`Bw8h  
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 ](IOn:MuDE  
l 5f'R  
结果：场追迹矩形光栅 ?w)A`G_  
Q"qJ0f)  
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 &d"s cM5  
结果：场追迹锯齿形光栅 D9n+eZ  
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文件&技术信息 O [=W%2I!i  
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QQ：2987619807 g~OG~g@  
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