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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 _^RN C)ol  
(%>Sln5hq  
任务/系统描述 Y\ T*8\h_[  
x~GV#c  
 6QRfju'  
34C ^vBp  
亮点 5Ag>,>kJ6  
 W4CI=94  
 O#7ldF(  
AEwb'  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 h6x+.}}  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析  2H<?  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 |Z;w k&  
JMOP/]%D  
说明：光源 z1+rz%  
nRQIrUNq  
%:o@IRTRU  
Jb-wvNJu  
说明：透镜系统 3i(k6)H$4  
K23_1-mbe  
Kc udWW]  
 gE=~.P[ZX  
说明：样品结构 [Pp#l*  
)O- x1U  
-R'p^cMA  
UKK}$B  
说明：探测器 QBsDO].J<  
Xy*X4JJh^  
|V 9%@ Y?  
X}z KV  
结果：3D光线追迹 \N#)e1.0P  
SA>;]6)`(  
 !P Gow  
G^mk<pH  
结果：场追迹矩形光栅 xYu~}kMu  
QrA8 KSLC  
J#V `W&\,6  
 ] |`gTD6  
结果：场追迹锯齿形光栅 ['km'5uZ^  
Z `\7B e  
oZCi_g 5i  
文件&技术信息 KR^peWR  
PYHm6'5BtB  
 z~ u@N9M  
LVEVCpp@  
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QQ：2987619807 F[=m|MZb  
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