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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量>显微 Xqf,_I=V  
}UhYwJf89  
任务/系统描述 4Z)s8sDKW  
#CC5+  
G4)~p!TSQ  
]q]xU,  
亮点 KNVu[P)rv  
xa~]t<2  
mJSfn"b}K  
YZol4q|ic  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 T`&zQQ6F'  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 9bM\ (s/  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 cM#rus?)+  
BQ-x#[ %s  
说明:光源 y)G-6sZ/  
aGD< #]  
5;a*Xf%V  
N,(!   
说明:透镜系统 G|wtl(}3  
g>lZs  
@5>#<LV=E#  
l(t&<O(m9  
说明:样品结构 pXk^EV0  
lzEynMO+  
Gw*Tz"  
W XQ@kQD  
说明:探测器 vF72#BNs  
`'YX>u/  
#Bd]M#J17a  
QNNURf\[(  
结果:3D光线追迹 kKX' Y+  
>e;-$$e  
( S[z  
owAO&"C  
结果:场追迹矩形光栅 $Z]&3VxxY  
p+d-7'?I  
fkV@3sj  
\@<7Vo,  
结果:场追迹锯齿形光栅  .U1wVIM  
1QoW/X'>.  
eADCT  
文件&技术信息 + :MSY p  
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pj>R9zpn_  
SDnl^a  
qE)FQeN  
QQ:2987619807 IskL$Y ^  
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