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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 _wZ(%(^I  
pf] sL/g  
任务/系统描述 ]=@>;yP)  
1ub03$pL;  
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亮点 h %MPppCEa  
.$99/2[90  
 sI9~TZ :  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 \iu2rat^  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ,((5|MbM/  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 }{j[  
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说明：光源 xU67ztS'E'  
ec"L*l"  
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JK[7&C-O  
说明：透镜系统 W9a H]9b  
_W]3_1Lu  
3<'SnP3mY  
 EG<K[t  
说明：样品结构 OEq8gpqY  
l$zo3[  
BR"*-$u0;  
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说明：探测器 "xnek8F  
A/BL{ U}  
JMO"(?  
H'Z[3e  
结果：3D光线追迹 #_|b;cf  
]J_Dn\  
 S`"IM?  
NpH)K:$#%  
结果：场追迹矩形光栅 ?z Ms;  
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结果：场追迹锯齿形光栅 Z#"6&kv  
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文件&技术信息 #l8CUg~Uj  
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QQ：2987619807 ) ,*&rd!  
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