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infotek 2020-10-28 09:33

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 }cl~Vo-mp  
;;A8*\*$  
任务/系统描述 2;!,:bFb  
D/& 8[Z/Cn  
 fMGL1VN  
960[.99  
亮点 xbZx&`(  
M|HW$8V3_2  
 ;"d>lyL  
{xW HKsI>,  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ~Bw)rf,  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ~ 9 F rlj  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 D's Tv}P  
6bv~E.  
说明：光源 Ib8*rL0p<L  
x%J4A+kU  
?p&CR[  
](^$5Am  
说明：透镜系统 yJyovfJz.  
Jf#Ika&px  
he/WqCZg  
 {Kbb4%P+h  
说明：样品结构 T/m4jf2  
3I}(as{Rp  
mNc?`G_R  
F!N D  
说明：探测器 TnuNoMD.  
+-s$Htx  
.dbZ;`s  
fu=GgD*  
结果：3D光线追迹 R]LRgfi9  
b8QQS#q)V  
 G}|!Jdr  
IdHyd Y1  
结果：场追迹矩形光栅 L6>;"]:f`  
SC Qr/Q  
FrKI=8  
 *VP-fyJp  
结果：场追迹锯齿形光栅 t\\oG H  
3Ygt!  
-@I+IKz  
文件&技术信息 -2D/RE7|  
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5.IX  
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QQ：2987619807 bXiOf#:''  
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