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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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infotek
2020-10-28 09:33
对高数值孔径显微镜下不同样品研究
光学测量>显微
Xqf,_I=V
}UhYwJf89
任务/系统描述
4Z)s8sD KW
#CC5+
G4)~p!TSQ
]q]xU,
亮点
KNVu[P)rv
xa~]t<2
mJSfn"b}K
YZol4q|ic
显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析
T`&zQQ6F'
对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析
9bM\ (s/
在光线追迹以及物理光学建模间简单切换
cM#rus?)+
BQ-x#[%s
说明:光源
y)G-6sZ/
aGD< #]
5;a*Xf%V
N,(!
说明:透镜系统
G|wtl(}3
g>lZs
@5>#<LV=E#
l(t&<O(m9
说明:样品结构
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lzEynMO+
Gw*Tz"
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说明:探测器
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`'YX>u /
#Bd]M#J17a
QNNURf\[(
结果:3D光线追迹
kKX' Y+
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(S[z
owAO&"C
结果:场追迹矩形光栅
$Z]&3VxxY
p+d-7'?I
fkV@3sj
\@<7Vo,
结果:场追迹锯齿形光栅
.U1wVIM
1QoW/X'>.
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文件&技术信息
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QQ:2987619807
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