首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> FRED,VirtualLab -> 检查微型晶片的光学系统 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2020-10-16 10:08

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 Jy#2 1  
V7Mp<x%  
任务/系统说明 Dj{t[z]$k  
MB(l*ju0  
BIEeHN4  
HNL;s5gq  
亮点 v0~*?m4  
_dw6 C2]P  
 X$$b:q  
G2_l}q~  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） i<uk}  
 严格分析光栅衍射效率 JKYkS*.a}  
 考虑入射光的方向分布 .:+&2#b  
Iqm QQ_KH  
说明：光源 ew6\Z$1c~  
F5EsaF'e4  
e^Lt{/  
,~xX[uB  
说明：光束分束器 h*X u/aOg  
^U@E rc#d  
hX sH9R  
7S]akcT/  
说明：检测透镜系统 !T8h+3 I  
km#Rh^  
yBwCFn.uP-  
}Dc?Emb  
说明：微型晶片 XnI)s^  
g6T /k7a  
dWAKIBe  
ob;$yn7ZO1  
说明：检测物镜 B[6y2+6$0  
aJ}Cq k  
j; )-K 3Ia  
h"+|)'*n  
说明：探测器 VWR6/,N^_  
4XL]~3 c  
By-A1|4Cp`  
d|(@#*{T]  
结果：3D光线追迹（只有0级） J+6bp0RIh  
2OJ=Xb1  
F`\7&'I  
} h pTS_  
结果：3D光线追迹（所有级） PE-P(T3s[8  
<[mvfw  
Ss~dK-{e7  
XQ]5W(EP  
结果：光线追迹 F)g.xQ  
89{@2TXR  
 nXuoRZ  
]ZOzqh_0C  
结果：场追迹 Tp0^dZM+  
L=wg"$  
 $5)ZaYx<  
tv1Z%Mx?Cp  
结果：线性偏振光的场追迹 D.\s mk  
=5sUpP V(  
' cx&:s  
 :7+E fu  
文档和技术信息 h (`Erb  
,3`RM $  
 s!d"(K9E  
$|yO mh  
 H,!3s<1  
QQ：2987619807 #D-L>7,jA  
查看本帖完整版本: [-- 检查微型晶片的光学系统 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计