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infotek 2020-10-10 09:16

使用特殊介质的光栅结构的配置

摘要 jp<VK<s]  
/0==pLa4  
光栅结构广泛用于多个应用,如光谱仪、近眼显示系统等。通过应用傅里叶模态方法(FMM),VirtualLab Fusion以一种简单的方法提供了任意光栅结构的严格分析。在光栅软件包中,通过使用堆栈中的多个界面或/和介质可以配置光栅结构。用于设置堆栈的几何结构的用户界面是友好型的,可以用于产生更加复杂的光栅结构。在这个用例中,解释了基于特殊介质光栅结构的配置。 f@z*3I;  
tm)*2lH6  
R9dP,<2  
CMVS W6  
该用例展示了… \ElX~$fS  
 在光栅工具箱中通过使用特殊介质如何配置光栅结构,如: Dx+ K+(  
倾斜光栅介质 F|eu<^"$ H  
体光栅介质 h8}8Lp(/'  
 如何在计算前改变高级选项&检查定义的结构 (O5)wej   
c?6d2jH.  
9;f|EGwZ  
k$[{n'\@  
光栅工具箱初始化 oh\,OW  
1kFjas `g  
,seFkG@1  
 初始化 jMU9{Si  
开始-> xb^ Mo.\[  
光栅-> vA?_-.J  
通用光栅光路图 9N Le&o  
 注意:对于特殊类型光栅的使用,如体光栅,可以直接选择特定的光路图 TbNGgjT  
光栅结构设置 kL7^$  
 首先,需要定义基底(底座)材料和厚度 b7$}JCn  
 在VirtualLab中,光栅结构在所谓的堆栈中定义  (K #A  
 堆栈可以固定到基底的一边或两边 EF;,Gjh5p  
J+2R&3;_O  
 这个例子中,第一个界面上的堆栈已经选中 Pz473d  
0n5UKtB  
堆栈编辑器 - V=arm\#z  
k&GHu0z  
-9G]x{>  
9*_uCPR  
堆栈编辑器 R;THA!  
-CU,z|g+  
T-P@u-DU  
涂层倾斜光栅介质 Z=9dMND  
i$O#%12l  
 在目录分类“LightTrans定义”中,可以找到涂层倾斜光栅介质。 JuJ5qIal  
 这种类型的介质可以使用具有或不具有额外涂层的倾斜光栅结构 `^%GN8d}nm  
 在这个例子中,由熔融石英制成的光栅(具有含铬的涂层)位于玻璃基质上 H1Xovr  
 在堆栈编辑器视图中,不同的材料由基于他们折射率的其他颜色显示(暗色意味折射率高) D44I"TgqD  
E^syrEz  
C4_t_N  
I7Zq}Pxa  
涂层倾斜光栅介质 ~ &~C#yjg1  
:&$Xe1)i]  
MVAc8dS  
9p<:LZd~  
涂层倾斜光栅介质 Mf7E72{D  
 堆栈周期允许控制整个配置的周期 6D^%'[4t  
 该周期同样用于FMM算法的周期性边界条件 eCL?mhK  
 在简单光栅结构的案例中,推荐选择选项“根据介质周期“和选择周期性介质合适的折射率 LW?2}`+  
vs*I7<  
<4NQL*|>  
b-b;7a\N  
涂层倾斜光栅介质参数 M,{<TpCx  
J~2 CD*v  
APuu_!ez1  
rxkBg0Z`a  
涂层倾斜光栅介质参数 Na;t#,  
v<fWc971  
/O"0L/hc^  
%0(>!SY  
高级选项&信息 !L$oAqW  
 在传输菜单中,多个高级选项可用 PDZ)*$EE  
 传输方法标签允许编辑FMM算法的精确设置 g{&PrE'e9  
 可以设置考虑的总级数或倏逝级数的数量 @}{VM)Fc+  
 这可能是有用的,如果考虑金属光栅 F\P!NSFZV  
 相比之下,在电介质光栅中,默认设置已经足够 {q2<KRU2+#  
}'_:XKLj  
bl9E&B/  
=z%s8D2  
高级选项&信息 mZ&]  
 高级选项标签提供了结构分解的信息 2c*2\93>  
 层分解和过渡点分解设置可用于调整结构的离散化,默认设置适用于几乎所有的光栅结构 ~pwY6Q  
 更多地,提供了关于层数和过渡点的信息 F13%)G(  
 分解预览按钮提供了用于FMM计算的结构数据的描述,折射率由颜色尺度描述 >hesxC!  
3?6Ber y=  
dW6Q)Rfi  
'|+=B u  
高级选项&信息  A8`orMo2  
-*5yY#fw}  
k dUc&  
M%77u=m  
高级选项&信息 2f /bEpi  
_"`/^L`Q?  
,P1G ?,y  
-hm 9sNox  
体光栅介质 [/n' @cjNZ  
5vl2yN  
 另一种用于光栅配置的介质类型是体光栅介质 F .& *D~f  
 界面允许配置折射率的调制,这由全息曝光产生 0$(jBnE  
 同时,两个平面界面作为介质的边界 *+# k{D,  
13]y)(  
DOA[iT";4  
|c BHBd  
体光栅介质参数 csm?oUniz  
7YSuB9{M  
 为了描述体光栅,VirtualLab模拟了一定数量刻蚀波的干涉图案 )z|_*||WU^  
 首先,需要选择全息介质,这提供了初始折射率 lp 3(&p<:  
 其次,折射率调制的周期和取向由入射角(α)和信号波的参考波长控制 gS0,')w  
 更多地,根据入射角引入量化的波矢空间,数值计算量可以显著的减少(也可以查阅更多关于体光栅的文件) +2f> M4q  
:K5V/-[|V1  
$::51#^Wg  
r{c5dQ  
体光栅介质参数 O{O 9}]6  
agGgJ@  
</~1p~=hAt  
P[r}(@0rJ  
高级选项&信息 %Gnd"SGs  
Ni/|C19Z  
}qTv&Z3$  
6i55Ja  
高级选项&信息 qsQ]M^@>  
(gv=P>:  
3BuD/bs  
dICnB:SSB  
在探测器位置处的备注 r< N-A?a  
 在VirtualLab中,探测器默认位于空气中基底的后面 i@sCMCu6  
 如果光栅包含在复杂的光学装置中,这是必要的 P DNt4=C  
 然而,完美的平面和平行基底可能引起更多地干涉效应,这在现实中不会发生 wK/}E h\^  
 因此,对于合理的光栅效率的计算,在基质材料中设置探测器是合适的(正如大多数光栅评估软件) \Or]5ogT'  
 这避免了这些干涉效应的不必要的影响 |Sy}d[VKsZ  
eU<]h>2  
gogl[gHO  
EVby 9!  
文件信息 lU >)n  
>:(6{}b  
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QQ:2987619807 W` 6"!V  
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