角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 x c/}#>ED 系统简介 znxnL,- l8I /0`_ ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 mVVD! ~F4fFQ-yy 特征及技术参数 1DE1.1 Kla'lCZ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, ;D:9+E<>a - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) ,cB\ - 入射光与探测器可共面或异面。 *v9 2 - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 t=Xv;=daB - 可对样品进行扫描。 N'^&\@)xiU - 动态范围: 13个数量级。 ,q}MLTSi - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 IFF92VD& - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 h| ,:e;>} - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 _H j!2 ' - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 y~q8pH1
- 方便操作的测量及分析软件。 N"]q='t - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 '}fzX2Q# 7]blrN] 应用 D|e
uX7b gDQ1?N'8{t 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 ~:Ll&29i - 产品质量检测。 / c AUl - 光学性能分析。 ]ooIrY8 - 粗糙度分析。 qU#1i:(F* j!U-'zJ 原文链接:http://www.infotek.com.cn/html/41/20170207776.html
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