| 探针台 |
2020-05-12 10:28 |
扫描电子显微镜SEM应用
扫描电子显微镜SEM应用范围： dG@%jD)
1、材料表面形貌分析，微区形貌观察 '*K :
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2、各种材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 `F-/QX[:
3、各种薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 /5S30 |K
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扫描电子显微镜样品制备比透射电镜样品制备简单，不需要包埋和切片。 `#rL*;\uV
样品要求： um jt]Gu[
样品必须是固体；满足无毒，无放射性，无污染，无磁，无水，成分稳定要求。 @Xt *Snd
制备原则： ?M8dP%&r
表面受到污染的试样，要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗，然后烘干； ^X=ar TE
新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或表面的结构状态； abuh` H#
要侵蚀的试样表面或断口应清洗干净并烘干； n`#tKwWHYx
磁性样品预先去磁； +9M^7 /}H
试样大小要适合仪器专用样品座尺寸。 X3{G:H0\p
常用方法： Z_ $%.
块状样品 Lf16j*}-Q
块状导电材料：无需制样，用导电胶把试样粘结在样品座上，直接观察。 \d 6C%S!
块状非导电（或导电性能差）材料：先使用镀膜法处理样品，以避免电荷累积，影响图像质量。 IbT=8l,Li
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