飞跃小河 |
2020-04-26 17:38 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 4Aew
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^\&g^T% 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 }4]<P (AG
5j,qAay9 ,-3(^d\1F 建模任务 @$P!#z L~{Vt~H9" 1Wk
EPj, 仿真干涉条纹 A{I
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