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探针台 2020-04-17 11:36

中国排名前100的IC设计公司

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大唐微电子技术有限公司 }tz7b#  
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北京中星微电子有限公司 wT@og|M  
中国华大集成电路设计中心   $i&zex{\  
北京中电华大电子设计有限责任公司   _b 0& !l<  
北京清华同方微电子有限公司   C]6O!Pb0  
北京神州龙芯集成电路设计有限公司 1#x0q:6  
威盛电子(中国)有限公司 (zk"~Ud  
北京九方中实电子科技有限责任公司 \hXDO_U  
北京NEC集成电路设计公司 A"]YM'.  
北京华虹集成电路设计有限责任公司  &Jj<h: *  
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北京海尔集成电路设计有限公司 V88p;K$+  
北京六+合万通微电子技术有限公司 m`XHKRp  
北京中庆微数字设备开发有限公司 uT"rq:N  
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北京奇普嘉科技有限公司 vP&(-a  
北京思旺电子技术有限公司 >Tgv11[  
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清华大学微电子学研究所 4RO}<$Nx}  
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北京青鸟元芯微系统科技有限责任公司 lxx2H1([  
北京中科飞鸿科技有限公司 0J9x9j`&j  
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北京东科微电子有限公司 uRvP hkqm  
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北京中科微电子技术有限公司 9[4xFE?|  
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Cadence公司 \fOEqe*5SM  
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Chipldea公司 )%TmAaj9d  
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美国家半导体 ~%oR[B7=|  
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成都华微电子系统有限公司 t_suF$  
[attachment=99952]芯片失效分析实验室介绍,能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作,开展从底层芯片到实际产品,从物理到逻辑全面的检测工作,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务,同时可开展模拟重现智能产品失效的现象,找出失效原因的失效分析检测服务,主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析,为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。 |&[EZ+[  
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