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飞跃小河 2020-03-20 14:27

[Vrituallab]马赫泽德干涉仪

摘要 3]?='Qq.(  
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干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 fVgK6?<8^  
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建模任务 f|B\Y/*X  
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由于组件倾斜引起的干涉条纹 2WH(c$6PWf  
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由于偏移倾斜引起的干涉条纹 KyX2CfW}t  
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文件信息 J[6/dM  
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