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探针台 2020-02-10 14:49

双束FIB---Scios 2 DualBeam

uKXD(lzX  
使用 Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM 和原子探针样品 r,Xyb`  
Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒可进行超高分辨率成像, 满足最广泛类型样品(包括磁性和不导电材料)的最佳成像需求 ];6955I!  
各类集成化镜筒内及极靴下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息 pg7~%E4  
可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取优质、多模态 内部和三维信息 Me? I8:/  
高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam™相机实现精确样品导航 lN:;~;z_  
专用的DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan™等模式实现无伪影成像和图形加工 UjoA$A!Od;  
灵活的 DualBeam 配置,优化解决方案满足特定应用需求 ty#6%  
X])iQyN  
通用型高性能双束系统 D84&=EpVZ  
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Scios 2 DualBeam 提供最佳的样品制备、内部及三维表征性能,可满足最广泛类型样品的应用需求。 X"q[rsB  
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Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料) 提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam 系统创新性的功能设计,优化了其样品处理能力、分析精度和易用性,  是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。该系统于2013年推出市场,MTBF>1500hr,深受广大半导体用户爱戴。 u*I'c2m  
D]*|Zmr+}  
高质量 TEM 制样 %bF157X5An  
科学家和工程师不断面临新的挑战,需要对具有更小特征的日益复杂的样品进行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系统的最新技术创新,结合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific uQx/o ^  
AutoTEM™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果, 需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。 .uS`RS8JM  
^< cJ;u*0  
高质量内部和三维信息 DW9MX`!Xc  
内部或三维表征有助于更好地理解样品的结构和性质, Scios 2 0k16f3uI   
DualBeam 系统配备 Thermo Scientific Auto Slice&View™4 (.@peHu)#  
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  (AS&V4)软件,可以高质量、全自动地采集多种三维信息,其中,三维 BSE 图像提供最佳材料衬度,三维 EDS 提供成分信息, 而三维 EBSD 提供显微结构和晶体学信息。结合Thermo Scientific Avizo™软件,Scios 2 DualBeam 系统可为纳米尺度的高分辨、先进三维表征和分析提供独特的工作流程解决方案。 FNF`Z  
S#8)N`  
超高分辨成像并获取最全面的样品信息 Jh&DL8`  
创新的NICol电子镜筒为Scios 2 DualBeam 系统的高分辨率成像和检测功能奠定了基础。无论是在STEM模式下以30 keV来获取结构信息,还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息,  系统可在最广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。系统独特的镜头内Thermo Scientific Trinity™检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取最详细的纳米级信  息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松  地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的最小特征。依托独特的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。 c?_7e9}2  
d|Wqx7t]P  
帮助所有用户提高生产力 hI*v )c  
Scios 2 DualBeam系统可帮助所有经验水平用户更快、更轻松 k,=<G ,  
地获得高质量、可重复的结果。系统提供用户向导,使新手用户可以轻松、快速地提高工作效率。此外,诸如“撤消”和“重做”之类的功能鼓励用户开展更多类型的实验。 m3pDFI  
真实环境条件的样品原位实验 fi*b]a\'  
Scios 2 DualBeam系统专为材料科学中最具挑战性的材料微观 pKq[F*Lut  
表征需求而设计,配备了全集成化、极快速MEMS 热台μHeater, Xy K,  
可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。110毫米样品  台可倾斜至90˚,优中心工作距离更大,确保了系统极佳的灵活性。系统可选配低真空模式,可轻松兼容各种样品类型和数据采 集。同时,系统结合了扩展的沉积和蚀刻功能、优化的样品灵活 性和控制能力,成为最通用的高性能FIB / SEM 系统,所有这些都由赛默飞的专业应用和服务支持。 EZI#CLT[  
fw,,cu`YA  
电子光学 w*/@|r39  
NICol 非浸没式超高分辨率场发射扫描镜筒,配有: Q"{Dijc%  
· 高稳定性肖特基场发射电子枪,用于提供稳定的高分辨率 分析电流 O<L=N-  
· 60 度双物镜透镜,支持倾斜较大的样品 `4xQ#K.-  
· 自动加热式光阑,可确保清洁和无接触式更换光阑孔 [fT$# '6  
· 连续电子束电流控制和优化的光阑角度 ^c}3o|1m(  
· 电子枪安装和维护简单 自动烘烤,自动启动,无需机械合轴 |J:r]);@K  
· 两级扫描偏转 t'At9<ib  
· 双物镜透镜,结合电磁透镜和静电透镜 a*X{hU 9P  
· 快速电子束闸* G]k[A=dg  
· 用户向导和镜筒预设 &a=rJvnIO&  
· 电子源寿命至少24个月 F>#F@j^c  
电子束分辨率 j;y(to-e>D  
最佳工作距离下 8M,o)oH  
· 30keV 下 STEM  0.7nm wH@S$WT  
· 1keV 下 1.4nm 15keV 下 1.2nm gAztdA sLM  
· 1keV下 电子束减速模式 0.99nm* H^S<bZ  
}`QZV_  
电子束参数 l]wLQqoO  
· 电子束流范围(数显,连续可调):1pA  400nA 8[X"XThj  
· 加速及着陆电压:20V-30KV(连续可调) WUz69o be  
· 放大倍数范围:40x-1200x 3>L5TYa  
· 最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作 距离下为7.0mm,样品台到束交叉点85mm ^ /G ;  
· 导航蒙太奇功能可额外增大视场宽度 g.`Ntsi$wI  
离子光学 L7(FD v,?  
卓越的大束流Sidewinder离子镜筒 8VQ!&^9!U#  
· 加速电压范围:500 V - 30 kV #>:S&R?2t  
· 离子束流范围:0.6pA  65nA(数值显示) U@yhFj_y  
· 15 孔光阑 *`w>\},su  
· 标配不导电样品漂移抑制模式 B%Qo6*b  
· 离子源寿命至少1,300小时 :^{KY(3  
· 离子束分辨率:30 kV下 3.0 nm(采用选边统计平均值法) z)^.ai,:0  
探测器 ,ps?@lD  
· Trinity 探测系统(透镜内和镜筒内) &53,8r  
- T1 分割式透镜内低位探测器 Uq'W<.v 5  
- T2 透镜内高位探测器 C)yw b6  
- T3可伸缩镜筒内探测器* j96}E/gF  
- 可同步检测多达四种信号 m5N,[^-  
· ETD Everhart-Thornley 二次电子探测器 Pb T2- F_  
· ICE探测器 - 高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子* ;Krs*3 s  
· DBS  可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射电子探测器* (#>X*~6  
· STEM 3+ 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF) * .,qh,m\Fo  
· 样品室红外 CCD 相机,用于样品台高度观察 iVeH\a  
· Nav-Cam™: 样品室内彩色光学相机,用于样品导航* <h#W*a  
· 电子束流测量* ?d?.&nt  
样品台和样品 #=y)Wuo=  
灵活五轴电动样品台: |+HJ>xA4I  
· XY范围:110mm `.~S/$a.&  
· Z范围:65mm s92ol0`  
· 旋转:360 °(连续) nPI$<yW7F  
· 倾斜范围:-15°到 +90° LD?\gK "  
· XY重复精度:3μm "pK<d~Wu  
· 最大样品高度:与优中心点间隔85mm =EYgck;)  
· 最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托) a)r["*bTx  
· 最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样  品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限) xWY\,'+Q  
· 同心旋转和倾斜 *^ G,  
真空系统 X0j>g^b8  
· 完全无油的真空系统 \/ri|fm6l#  
· 样品仓真空(高真空):< 5.9 x 10 -6 mbar(24小时抽气后) fHZ9wK>  
· 抽气时间:208秒 }L|B@fW  
· 可选空压机和冷却循环水系统,分别用于冷却SEM镜筒及其它部件 > fV "bj.  
PeiRe  
样品仓 ^.@%n1I"5y  
· 电子束和离子束夹角:52°,集成等离子清洗功能  ^ b5+A6?  
· 端口:21个 b1'849i'y=  
· 内径宽度:379mm "S'Yn-  
样品托 0w TOdCvmb  
· 标准多功能样品托,以独特方式直接安装到样品台上,可容纳18个标准样品托架(φ12mm)、3个预倾斜样品托、 d#d&CJAfr  
2个垂直和2个预倾斜侧排托架*(38°和90°),样品安装 无需工具 Ici4y*`M  
· 每个可选的侧排托架可容纳6个S/TEM铜网 K^"l.V#J  
· 各种晶片和定制化样品托可按要求提供* p]y.N)a  
系统控制 D{7^y>8_Y-  
· 64位GUI(s 7)、键盘、光学鼠标 l*wGKg"x3  
· 可同时激活多达4个视图,分别显示不同束图像和/或信号, 真彩信号混合 { )b  
· 本地语言支持:请与当地Thermo Fisher销售代表联系确认可用语言包 7y30TU  
· 24英寸宽屏显示器 1920 x 1200(第二台显示器可选配) ,:K{  
· Joystick 操纵杆* \X(*JNQ  
· 多功能控制板* eTgtt-;VR  
· 远程控制和成像* }JQy&V%  
图像处理器 l\N2C4NG  
· 驻留时间范围:25纳秒 25 毫秒/像素 Qp:m=f6@  
· 最高 6144 × 4096 像素 }zkFl{/u  
· 文件类型:TIFF (8 位、16 位、24 位)、BMP或JPEG 标配 1D [>oK\  
· SmartSCAN™ (256 帧平均或积分、线积分和平均法、跨行扫描) iE;F=Rb  
· DCFI (漂移补偿帧积分) hop| xtai;  
支持软件 +]wM$bP  
· “Beam per view”图形用户界面,可同步激活多达4个视图 jFKp~`/#  
· Thermo Scientific SPI™ (同步FIB加工和SEM成像)、iSPI™ (间歇式SEM成像和FIB加工)、 iRTM™(集成化实施监测)和 FIB 浸入模式,用于高级、实时SEM和FIB 过程监测和端点测量 Jh%SenP_oP  
· 支持的图形:矩形、直线、圆形、清洁截面、常规截面、 多边形、位图、流文件、排除区、阵列 Pz D30VA  
· 直接导入BMP文件或流文件进行三维刻蚀和沉积 FY)]yz  
· 材料文件支持“最短循环时间”、束调谐和独立重叠 )+,h}XqlX  
· 图像配准支持导入图像进行样品导航 lJfk4 -;M  
· 光学图像上的样品导航 T)q Uf H  
· 撤销(Undo)/重做(Redo)功能 Qof%j@  
· DualBeam系统基本操作及应用用户指南 >tMI%r  
· 智能扫描功能Smart Scan oXk6,b"  
· 漂移补偿帧积分功能DCFI =tA;JB  
· 蒙太奇导航功能 0cfGI%  
· 具备束流测量装置 `h :!^"G  
· 实时观察离子束加工的监控功能 47{5{/B-  
}#&[[}@th  
Thermoscitific原装配件* >e-0A  
· GIS气体注入: 最多四台设备,每种气体配备独立的气体注入器,防止不同气体交叉污染,以提高蚀刻或沉积效果 (其他配件可能会限制可用的GIS数量) ,可选气体化学选项超过10种: (w"(RM~  
- 铂沉积 *+6iXMwe  
- 钨沉积 O+< +yQl  
- 碳沉积 z"QtP[_m  
- 绝缘体沉积II j bT{K|d-  
- 金沉积 yEh{9S%6p  
- 增强刻蚀(碘、专利) RZnmia  
- 绝缘体增强刻蚀(XeF2) )OQ<H.X  
- Delineation EtchTM(专利) s]A8C^;c  
- 二氧化硅增强刻蚀 LN$T.r+  
- 空坩埚,用于经批准的用户提供的材料 ?5};ONjN  
- 更多束化学选项可按要求提供 WH7UJCQ  
· Thermo Scientific EasyLiftTM 系统用于精确原位样品操纵 726UO#*  
· 用于制备好透射电镜样品后提出,与主机集成一体化控制 Q;q{1M>  
· 漂移:49 nm/min "dOQ)<;  
· 步长精度:49nm y|0/;SjV  
· FIB荷电中和器 ofz?L#:2  
· μHeater:高真空兼容,超快加热台,温度高达1200 ℃ )ryP K"V  
· 分析:EDS、EBSD、WDS、CL XMP4YWuVc  
· Thermo Scientific QuickLoaderTM :快速真空进样器 <ycR/X  
· DualBeam 系统冷冻解决方案: Xj30bt  
- 独有的CryoMAT 用于材料科学冷冻应用 <|G!Qn?2-  
- 第三方供应商提供的解决方案 <:nyRy}  
· 隔音罩 `YZl2c<w*  
· Thermo Scientific CyroCleanerTM 系 统 %2\Pe 2Z  
· 集成等离子清洗 l(F\5Ys  
>X:!Y[N  
软件选项 <rui\/4NJ  
· AutoTEM 4 软件:用于最快速、最简单的高度自动化 cZoj|=3a  
STEM 样品制备 >X iT[Ru  
· AS&V4 软件:自动化连续刻蚀和观察,采集连续切片图 Z1$U[Tsd  
像、EDS或EBSD 图像进行三维重建 jRDvVV/-wr  
· Avizo 三维重建及分析软件 o >yXEg  
· Thermo Scientific MAPS™ 软件:用于大区域的自动图像 k*,+ag*j  
采集、拼接和关联 NN+;I^NqW&  
· Thermo Scientific NanoBuilder™ 软件:先进的基于 4 eSFpy1  
CAD(GDSII)的专有解决方案,用于复杂结构FIB 和束沉积优化的纳米原型制备 $txF|Fj]^A  
· iFast软件:适用于DualBeam系统的高级自动化套件 Ayn$,  
· 基于Web的数据库软件 lS p"(&  
· 高级图像分析软件 %WmTG }L)  
保修和培训 LIz'hfS!  
· 1年保修 IBu\Sh-  
· 可选维修保养合同 `e3$jy@  
· 可选操作/应用培训合同 `pDTjJ  
文档和支持 /S~ =qodS  
· 在线用户向导 FK-q-PKO#.  
· 操作手册 ,BGUIu6  
· RAPID™ 支持文件(远程诊断支持)
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