| 探针台 |
2020-02-10 14:49 |
双束FIB---Scios 2 DualBeam
*O5+?J Z! 使用 Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM 和原子探针样品 ~V&ReW/ Thermo Scientific NICol™ 电子镜筒可进行超高分辨率成像, 满足最广泛类型样品(包括磁性和不导电材料)的最佳成像需求 dF,FH- 各类集成化镜筒内及极靴下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供最完整的样品信息 -^5R51 可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取优质、多模态 内部和三维信息 kC0!`$<2f) 高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam™相机实现精确样品导航 7" [;M 专用的DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan™等模式实现无伪影成像和图形加工 P Cf|^X#B 灵活的 DualBeam 配置,优化解决方案满足特定应用需求 LJy'wl =<05PB 通用型高性能双束系统 ,fw[ J zT% kx:Fk Scios 2 DualBeam 提供最佳的样品制备、内部及三维表征性能,可满足最广泛类型样品的应用需求。 5dF=DCZ z!+<m< Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系统是一款超高分辨率分析系统,可为最广泛类型的样品(包括磁性和不导电材料) 提供出色的样品制备和三维表征性能。 Scios 2 DualBeam 系统创新性的功能设计,优化了其样品处理能力、分析精度和易用性, 是满足科学家和工程师在学术、政府和工业研究环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。该系统于2013年推出市场,MTBF>1500hr,深受广大半导体用户爱戴。 AE711l- Lk9>7xY 高质量 TEM 制样 vFOv
I Vp 科学家和工程师不断面临新的挑战,需要对具有更小特征的日益复杂的样品进行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系统的最新技术创新,结合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific 07|NPS AutoTEM™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果, 需要使用低能离子进行精抛,以最大限度地减少样品的表面损伤。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。 7|-xM>L$A 0Nu]N)H5<l 高质量内部和三维信息 *ls6#j@ 内部或三维表征有助于更好地理解样品的结构和性质, Scios 2 m}9V@@ DualBeam 系统配备 Thermo Scientific Auto Slice&View™4 [}2.CM {Y[D!W2y (AS&V4)软件,可以高质量、全自动地采集多种三维信息,其中,三维 BSE 图像提供最佳材料衬度,三维 EDS 提供成分信息, 而三维 EBSD 提供显微结构和晶体学信息。结合Thermo Scientific Avizo™软件,Scios 2 DualBeam 系统可为纳米尺度的高分辨、先进三维表征和分析提供独特的工作流程解决方案。 76b7-Nj" [q&J"dt 超高分辨成像并获取最全面的样品信息 8j}m\^si 创新的NICol电子镜筒为Scios 2 DualBeam 系统的高分辨率成像和检测功能奠定了基础。无论是在STEM模式下以30 keV来获取结构信息,还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息, 系统可在最广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。系统独特的镜头内Thermo Scientific Trinity™检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察,亦或者是观察样品截面,都可快速获取最详细的纳米级信 息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松 地同时采集所有信号,以显示材料表面或截面中的最小特征。依托独特的NICol镜筒设计和全自动合轴功能,用户可获得快速、准确且可重复的结果。 6dL>Rzl$Dk L\ %_<2 帮助所有用户提高生产力 ~@8d[Tb Scios 2 DualBeam系统可帮助所有经验水平用户更快、更轻松 -G;1U 地获得高质量、可重复的结果。系统提供用户向导,使新手用户可以轻松、快速地提高工作效率。此外,诸如“撤消”和“重做”之类的功能鼓励用户开展更多类型的实验。 9pcf jx.. 真实环境条件的样品原位实验 ~@D%qbN Scios 2 DualBeam系统专为材料科学中最具挑战性的材料微观 ib_Gy77Os 表征需求而设计,配备了全集成化、极快速MEMS 热台μHeater, p|d9g
^ 可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。110毫米样品 台可倾斜至90˚,优中心工作距离更大,确保了系统极佳的灵活性。系统可选配低真空模式,可轻松兼容各种样品类型和数据采 集。同时,系统结合了扩展的沉积和蚀刻功能、优化的样品灵活 性和控制能力,成为最通用的高性能FIB / SEM 系统,所有这些都由赛默飞的专业应用和服务支持。 ]eW|}V7A: wIF
":' 电子光学 Wts{tb NICol 非浸没式超高分辨率场发射扫描镜筒,配有: {1aAm+ · 高稳定性肖特基场发射电子枪,用于提供稳定的高分辨率 分析电流 _,FoXf7 · 60 度双物镜透镜,支持倾斜较大的样品 e<4z) · 自动加热式光阑,可确保清洁和无接触式更换光阑孔 k~f+L O · 连续电子束电流控制和优化的光阑角度 /8}+#h)[ · 电子枪安装和维护简单 自动烘烤,自动启动,无需机械合轴 LG#w/).^ · 两级扫描偏转 8>Z$/1Mh · 双物镜透镜,结合电磁透镜和静电透镜 &8_;: · 快速电子束闸* rfRo*u2" · 用户向导和镜筒预设 e:LZ s0 · 电子源寿命至少24个月 Iv72;ZCh?6 电子束分辨率 (QSWb>np 最佳工作距离下 fVUBCu · 30keV 下 STEM 0.7nm ]B3FTqR{i · 1keV 下 1.4nm 15keV 下 1.2nm i\;&CzC: · 1keV下 电子束减速模式 0.99nm* cqY.^f. -]\E}Ti 电子束参数 4AOS}@~W · 电子束流范围(数显,连续可调):1pA 400nA
YeC,@d[ · 加速及着陆电压:20V-30KV(连续可调) xY0QGQca · 放大倍数范围:40x-1200x P0 ltN · 最大水平视场宽度:7mm工作距离下为3.0mm,60mm工作 距离下为7.0mm,样品台到束交叉点85mm z<6P3x| · 导航蒙太奇功能可额外增大视场宽度 +){a[@S@x 离子光学 i @9Qb 卓越的大束流Sidewinder离子镜筒 ; axaZV · 加速电压范围:500 V - 30 kV P9"D[uz · 离子束流范围:0.6pA 65nA(数值显示) d Zz^9:C+ · 15 孔光阑 CY3 \:D0I · 标配不导电样品漂移抑制模式 $Kz\
h#} · 离子源寿命至少1,300小时 u45h{i-e · 离子束分辨率:30 kV下 3.0 nm(采用选边统计平均值法) U.Chf9a- 探测器 A
Ok7G?Y · Trinity 探测系统(透镜内和镜筒内) /P!X4~sTM - T1 分割式透镜内低位探测器 @@/'b' - T2 透镜内高位探测器 ,eeL5V - T3可伸缩镜筒内探测器* /-{O\7-D - 可同步检测多达四种信号 P}+|`>L · ETD Everhart-Thornley 二次电子探测器 >9tkx/J · ICE探测器 - 高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子* 7tl)4A6 · DBS 可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射电子探测器* O&gwr · STEM 3+ 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF) * YY:iPaGO · 样品室红外 CCD 相机,用于样品台高度观察 y:|.m@
j1 · Nav-Cam™: 样品室内彩色光学相机,用于样品导航* 0Dm`Ek3A7x · 电子束流测量* c+b:K 样品台和样品 H]i+o6 灵活五轴电动样品台: /ik)4]> · XY范围:110mm <Xs@ \ · Z范围:65mm h`EH~ W0:z · 旋转:360 °(连续) !v5sWVVR · 倾斜范围:-15°到 +90° iTugvb · XY重复精度:3μm }`9fZK{. @ · 最大样品高度:与优中心点间隔85mm ;%rs{XO9 · 最大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托) ;sL6#Go?V · 最大样品尺寸:可沿X、Y轴完全旋转时直径为110mm(若样 品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限) $: 4mOl · 同心旋转和倾斜 j |'#5H` 真空系统 v[,v{5b · 完全无油的真空系统 K*Nb_|~ · 样品仓真空(高真空):< 5.9 x 10 -6 mbar(24小时抽气后) p~,3A:i · 抽气时间:208秒 ##`;Eh0a · 可选空压机和冷却循环水系统,分别用于冷却SEM镜筒及其它部件 F`;TU"pDf K^,&ub.L) 样品仓 &Qtp"#{ · 电子束和离子束夹角:52°,集成等离子清洗功能 \}u7T[R=` · 端口:21个 U=c5zrs · 内径宽度:379mm !8
wid& 样品托 e<L 9k}c · 标准多功能样品托,以独特方式直接安装到样品台上,可容纳18个标准样品托架(φ12mm)、3个预倾斜样品托、 'TK$ndy;7} 2个垂直和2个预倾斜侧排托架*(38°和90°),样品安装 无需工具 %|`:5s-T% · 每个可选的侧排托架可容纳6个S/TEM铜网 KMpDlit · 各种晶片和定制化样品托可按要求提供* &v3D" J 系统控制 c<+g|@A# · 64位GUI(s 7)、键盘、光学鼠标 AF*ni~ · 可同时激活多达4个视图,分别显示不同束图像和/或信号, 真彩信号混合 l${Hgn+ · 本地语言支持:请与当地Thermo Fisher销售代表联系确认可用语言包 %/tGkS6 · 24英寸宽屏显示器 1920 x 1200(第二台显示器可选配) u,Q_WR-wJ · Joystick 操纵杆* 9{9#AI.G · 多功能控制板* uGP[l`f|FQ · 远程控制和成像* ubzb 图像处理器 fz<|+(_>J · 驻留时间范围:25纳秒 25 毫秒/像素 F;d%@E_Bc · 最高 6144 × 4096 像素 r|\5'ZMx · 文件类型:TIFF (8 位、16 位、24 位)、BMP或JPEG 标配 t3
uB · SmartSCAN™ (256 帧平均或积分、线积分和平均法、跨行扫描) ]|C_`,ux · DCFI (漂移补偿帧积分) k Z+ q 支持软件 q19k<BqR · “Beam per view”图形用户界面,可同步激活多达4个视图 B
c,"12 · Thermo Scientific SPI™ (同步FIB加工和SEM成像)、iSPI™ (间歇式SEM成像和FIB加工)、 iRTM™(集成化实施监测)和 FIB 浸入模式,用于高级、实时SEM和FIB 过程监测和端点测量 k\mXo-:V6 · 支持的图形:矩形、直线、圆形、清洁截面、常规截面、 多边形、位图、流文件、排除区、阵列 :>tF_6 · 直接导入BMP文件或流文件进行三维刻蚀和沉积 Q8;x9o@p · 材料文件支持“最短循环时间”、束调谐和独立重叠 A=v lC?&Z · 图像配准支持导入图像进行样品导航 jpYw#]Q · 光学图像上的样品导航 <?>I\ · 撤销(Undo)/重做(Redo)功能 :Bx+WW&P.i · DualBeam系统基本操作及应用用户指南 B&%L`v2[ · 智能扫描功能Smart Scan R\9>2*w · 漂移补偿帧积分功能DCFI *tTP8ZCQ[ · 蒙太奇导航功能 r!=]Q}`F · 具备束流测量装置 XJ
f+Eh · 实时观察离子束加工的监控功能 <O,'5+zG% RR[)UQ Thermoscitific原装配件* "xe7Dl · GIS气体注入: 最多四台设备,每种气体配备独立的气体注入器,防止不同气体交叉污染,以提高蚀刻或沉积效果 (其他配件可能会限制可用的GIS数量) ,可选气体化学选项超过10种: c{'$=lR " - 铂沉积 mC*W2#1pF - 钨沉积 q5:0&:m$4$ - 碳沉积 9_J!s - 绝缘体沉积II [ -9)T - 金沉积 F9m 2C'U - 增强刻蚀(碘、专利) $Q`yNEc - 绝缘体增强刻蚀(XeF2) ALE808;| - Delineation EtchTM(专利) `!Ua ScM - 二氧化硅增强刻蚀 X;s3y{ku - 空坩埚,用于经批准的用户提供的材料 >Jm-2W5J - 更多束化学选项可按要求提供 1zb$5 {,| · Thermo Scientific EasyLiftTM 系统用于精确原位样品操纵 ^Ei*M0fF · 用于制备好透射电镜样品后提出,与主机集成一体化控制 o
:.~X · 漂移:49 nm/min VRtbHam · 步长精度:49nm v?Z'[l · FIB荷电中和器 2k.S[?) · μHeater:高真空兼容,超快加热台,温度高达1200 ℃ !6XvvTs/< · 分析:EDS、EBSD、WDS、CL ^;V}l?J_s · Thermo Scientific QuickLoaderTM :快速真空进样器 paq8L{R · DualBeam 系统冷冻解决方案: RE ![O - 独有的CryoMAT 用于材料科学冷冻应用 6obQ9L c - 第三方供应商提供的解决方案 B]'e$uyL7 · 隔音罩 9>A-$a4R> · Thermo Scientific CyroCleanerTM 系 统 O]e6i%? · 集成等离子清洗 Mq+viU&
]h #WkcXQ 软件选项 r :fwrC · AutoTEM 4 软件:用于最快速、最简单的高度自动化 Nbgp_:{ STEM 样品制备 ^K7q<X , · AS&V4 软件:自动化连续刻蚀和观察,采集连续切片图 Nhjle@J< 像、EDS或EBSD 图像进行三维重建 L\QQjI{ · Avizo 三维重建及分析软件 Y
h^WTysBn · Thermo Scientific MAPS™ 软件:用于大区域的自动图像 %3]3r*e&5 采集、拼接和关联 Tx y]"_ · Thermo Scientific NanoBuilder™ 软件:先进的基于 )vO_sIbnW CAD(GDSII)的专有解决方案,用于复杂结构FIB 和束沉积优化的纳米原型制备 ,$HHaoog · iFast软件:适用于DualBeam系统的高级自动化套件 5T!&r · 基于Web的数据库软件 1t0bUf;(M · 高级图像分析软件 "F&Tnhh4 保修和培训 ot-(4Y · 1年保修 |C~Sr#6)7 · 可选维修保养合同 o:Ln._bj · 可选操作/应用培训合同 G
i$ 文档和支持 IetCMp · 在线用户向导 5?^]1P_ · 操作手册 E2>im>p · RAPID™ 支持文件(远程诊断支持)
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