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2019-11-25 17:04 |
VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性
摘要 1k5Who@ I^]2K0+x x 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 5C*Pd
Wpl yAs>{6%- [attachment=96956] VT%NO'0 TJpD{p} 建模任务 OwUhdiG ,I$`-$_' [attachment=96957] vNY{j7l/W 概述 =Z3 F1Cq? 9ni1f{k •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ^qvbqfh •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 r
CHl?J t r3!d_ [attachment=96958] [0[i5'K: =:,g 光线追迹仿真 b8VTo lJ He/8=$c% •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 >,Ci?[pf •单击go! N1S{suic •获得了3D光线追迹结果。 Nw/ ku qIE9$7*X [attachment=96959] +z\^t_"f Nk
8 B_{ 光线追迹仿真 B+VubUPMS Mj?`j_X •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 |`,2ri*5A •单击go! kT66;Y[ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 m6K}|j VT`^W Hu [attachment=96960] D~fl JR (sTpmQx,b 场追迹仿真 UiP"Ixg6 xJvmhN/c •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 |A9F\A->4 •单击go! wn, KY$/ !r8`Yr n [attachment=96961] D~iz+{Q4 ]e^&aR5f" 场追迹仿真(相机探测器) ]BZA:dd.G 8oseYH •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 rjAn@!|:+ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 9C9oUtS {n.PF8A5X [attachment=96962] ww3-^v "1*:JVG 场追迹仿真(电磁场探测器) r~8 $1" •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ?V.cOR`6 $am$EU?s [attachment=96963] beGa#JH, EhvX)s 场追迹仿真(电磁场探测器) mzKiO_g} {.|CdqwY •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ~.nmI&3 aEWWP] [attachment=96964]
@4#c&h3 RFc v^Xf 文件信息 (Q!}9K3 W:nef<WH [attachment=96965] +oML&g-g_ ~?Pw& K2 更多阅读 $dC?Tl|B0 9};8?mucr -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer aCj&O:]= -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 70nqD>M4 5yo%$i8I
(来源:讯技光电)
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