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2019-11-25 17:04 |
VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性
摘要 )+6MK(<" VX1-JxY 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 v;ZA4c /~<@ *-' [attachment=96956] @/31IOIV]` m|G'K[8 建模任务 $b mLu=9 *I0T{~ [attachment=96957] Ct>GYk$ 概述 % oo2/aF <.? jc% •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 <Sr •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 f=9|b (}2~<
[attachment=96958] 8#g1P4 v'3J.?N 光线追迹仿真 7K98#;a)5 s']Bx= •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 @
rc{SB •单击go! PGoh1Uu •获得了3D光线追迹结果。 sc,vj'r Qr{E[6 [attachment=96959] M"94#.dKK bXNk%W[n 光线追迹仿真 #e$5d>j( A nX%[W " •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 q1KZ5G)6GJ •单击go! R)m'lMi| •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ZG&>:Si; r<d_[?1N [attachment=96960] fd.^h*'mU Fkd+pS\9g~ 场追迹仿真
c$yk s z+n,uHs •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 _y}
T/I9 •单击go! tu66'z 1 P!Yxeh [attachment=96961] (bH`x]h# `M^=
D&Bf 场追迹仿真(相机探测器) ]z/8KL '$ t •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 LAS'u"c| •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 -^hWM}F GE%Z9#E [attachment=96962] +Z!)^j LQRQA[^ 场追迹仿真(电磁场探测器) :Ra,Eu •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 $m-2HhqZ A#J`;5!Sc [attachment=96963] _8F`cuyW ]\hSI){ 场追迹仿真(电磁场探测器) [`"ZjkR_J S p;G'*g •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 r\-uJ~8N :fZ}o|t7 [attachment=96964] 8h*Icf @] DVD 文件信息 B][U4WJ) p;3O#n-_ [attachment=96965] |Sy<@oq {YAJBIvHV 更多阅读 o.!~8mD Kzm+GW3o[ -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer L(|N[# -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination _M`--.{\O[ ~O
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(来源:讯技光电)
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