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2019-11-25 17:04 |
VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性
摘要 oC>e'_6_b [=9-AG~} 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 X>EwJ"q# q5?g/-_0[ [attachment=96956] cu(2BDfiL 314PcSc 建模任务 ,xB&{J t>f<4~%MJ [attachment=96957] <Bb$d@c 概述 pj&vnX6O^ vL@N21u •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Bp6jF2 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 jDIO,XuF 8s pGDg\g [attachment=96958] 1Vt7[L* H1rge< 光线追迹仿真 }9t$Cs% q$e2x=? •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ibex:W^ •单击go! (Mhj-0xf$ •获得了3D光线追迹结果。 .2/(G{}U X0J@c "%0 [attachment=96959] Q^/66"Z:Z jFpXTy[> 光线追迹仿真 0e9W>J9 m `~/]QQ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ~PP*k QZlJ •单击go! 048BQ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Cq;t;qN,nQ o0&jel1a [attachment=96960] RS!~5nk5 KB <n-' 场追迹仿真 Fh9`8 6tB- •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 dQ@e+u5 •单击go! >/nS<y> p}_bu@;.Z [attachment=96961] /=>z|?z3 J/8aDr(+ 场追迹仿真(相机探测器) S*Un$ngAh q PuxYU •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ==`K$rM •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 RN238]K }MW*xtGV [attachment=96962] P\KP )bkC , .uu/qV}w 场追迹仿真(电磁场探测器) /vS!9f${ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 o{pQDI {R 3]WIN_h [attachment=96963] @|(mR-Jj db`xlvrCY 场追迹仿真(电磁场探测器) hNmC(saMGm 1s8 v E
f •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 H`CDfTy &G7JGar [attachment=96964] SLpB$puS ~Tq
`c 文件信息 [?iA`#^d &0SX*KyI [attachment=96965] >'wl)j$ &Z/aM? 更多阅读 5s_7P"&H _HX1E -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer 9KRHo%m -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination vg"y$% f305 yo
(来源:讯技光电)
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