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xunjigd 2019-11-25 17:04

VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性

摘要 1k5Who@  
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 5C*Pd Wpl  
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[attachment=96956] VT%NO'0  
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建模任务 OwUhdiG  
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[attachment=96957] vNY{j7l/W  
概述 =Z3F1Cq?  
9ni1f{k  
•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ^q vbqfh  
•接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 r CHl?J  
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[attachment=96958] [0[i5'K:  
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光线追迹仿真 b8VTo lJ  
He/8=$c%  
•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 >,Ci?[pf  
•单击go! N1S{suic  
•获得了3D光线追迹结果。 Nw/  ku  
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[attachment=96959] +z\^t_"f  
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光线追迹仿真 B+VubUPMS  
Mj?`j_X  
•然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 |`,2ri*5A  
•单击go! kT66;Y[  
•结果得到点图(二维光线追迹结果)。 m6K}|j  
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[attachment=96960] D~fl JR  
(sTpmQx,b  
场追迹仿真 UiP"Ixg6  
xJvmhN/c  
•切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 |A9F\A->4  
•单击go! wn, KY$/  
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[attachment=96961] D~iz+{Q4  
]e^&aR5f"  
场追迹仿真(相机探测器) ]BZA:dd.G  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 rjAn@!|:+  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 9C9oUtS  
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[attachment=96962] ww3-^v  
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场追迹仿真(电磁场探测器) r~8 $1"  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ?V.cOR`6  
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[attachment=96963] beGa#JH,  
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场追迹仿真(电磁场探测器) mzKiO_g}  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ~.nmI&3  
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[attachment=96964] @4#c&h 3  
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文件信息 (Q!}9K3  
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[attachment=96965] +oML&g-g_  
~?Pw& K2  
更多阅读 $dC?Tl|B0  
9};8?mucr  
-Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer aCj&O:]=  
-Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 70nqD>M4  
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(来源:讯技光电)
l3x13999 2019-11-26 17:02
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