| 探针台 |
2019-09-17 14:15 |
Dual-beam FIB
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双束聚焦离子束(Dual-beam FIB)：双束聚焦离子束,北京双束聚焦离子束,检测 % 'H DP3
Dual-beam FIB机台能在以离子束切割样品时，同时用电子束对断面进行观察。所建置的业界相当高阶机台，具备超高分辨率的离子束及电子束。能针对样品中的微细结构进行奈米尺度的定位及观察，大幅提升失效分析及TEM样品制备的成功率与影像质量。 W_Y8)KxG:L
双束型聚焦离子束显微镜的应用，主要以下列所述为主： BrwC 9:
半导体组件故障分析(能力可达20nm高阶制程) x}?<9(nE c
半导体生产线制程异常分析 5j1d=h
磊晶与薄膜结构分析 AO|9H`6U6F
电位对比测试 6xJffl
纳米级结构加工
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