| 探针台 |
2019-09-17 14:15 |
北京芯片失效分析检测
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R 失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服务项目 I3=Sc^zz&V 提供客户做IC组件失效分析,EFA(电性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需资源与设备 Cr\/<zy1-e 提供客户一步到位的分析服务 z&G3&?Z 提供权威检测报告 C4d1*IQk 可协助解决的故障分析的种类 si4=C FIB,SEM,EDX,X-RAY,EMMI.IV,PROBE,RIE,DECAP等 测试后的失效分析服务
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