| 探针台 |
2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： nXk<DlTws
原子发射光谱 ICP-OES ?fc({zb
气相色谱质谱 GC/MS avykg (
X荧光能谱 wp-*S}TT
XRF 2|kx:^D p
原子吸收 AAS .P9ALJP(b
紫外分光 UV HpuHJ#l
离子色谱 IC /) MzF6
等离子质谱 ICP-MS r 2qxi'
显微傅利叶红外 ^zO%O653
FTIR Bj;Fy9[yb
双晶X衍射分析仪 DCXRD b qEwi[`
以及其它各类分析检测仪器... b;Pqq@P|g
温度冲击 Thermal Shock %#yCp2
高温高湿 @T|mHfQ8
TH <<@$0RW
老化试验 Burn-in 'h.{fKG]ME
紫外辐射 UV Oven {(Drw~/@
太阳氙灯 Solar/Xenon | ?~-k[|
盐雾试验 Salt Mist j{0_K +B
振动试验 /^
hB6 _'D
Vibration [l:3F<M
跌落 Shock T`Sp!
回流敏感度 e$4 5 OL
MSL q4|TwRx~
耐磨试验、弯折试验... @w[WG:-+
声学扫描 SAM +D * b!5[
X-射线透射 X-Ray q!$?G]-%
俄歇电子成份分析 AES {Fta4D_1N
光辐射电子显微镜 LwZBM#_g
EMMI ,Si\ky7L
有限元模拟与分析 FEA `
C dk
b5
透射电镜 TEM U z>5!_
聚焦离子束 FIB fF;Oz"I{\
原子力显微镜 AFM -z-58FLlO
热力学分析 Ma0_!|i
TMA/DMA WX p=>P[
集成电路分析仪... iKu[j)F
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS 68kxw1xY
金相切片制样 Cross section cwlXb!S $
染色分析 Dye and /T v=BXL-
pry <=/v%VXPm
开封制样 Decapsulation qDxz`}Ly=
激光开封仪 Laser Decap & %ej=O
光学显微镜 Optical E tWpB g
Microscope DzkE*vR
拉力剪切力 Pull/Shear tester - (VV
可焊性试验机 Solderbility tester muwXzN(KX
静电/过电分析仪 1c(1 YGuH
ESD/EOS 4r\Sbh
tester 72GX gah
绝缘/开路电阻... Z=_p
认证、检测与工艺分析范围： U\&kT/6vh
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 C eN pJ
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； 0cC5
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； mR,p?[P
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 (d |
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； Ua#*kTF
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