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2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： AC&)FY
原子发射光谱 ICP-OES -\[H>)z]RB
气相色谱质谱 GC/MS XT%\Ce!
X荧光能谱 OaeX:r+&Q
XRF f Hd|tl
原子吸收 AAS -qqI @+u+
紫外分光 UV 9y+0Zj+.
离子色谱 IC 'zhv#&O
等离子质谱 ICP-MS E! GH$%:;
显微傅利叶红外 ISHzlEY
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双晶X衍射分析仪 DCXRD L E}V{%)xD
以及其它各类分析检测仪器... '4ip~>3?w
温度冲击 Thermal Shock Bw /8-:eb
高温高湿 1Eh6ti
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老化试验 Burn-in !rsGCw!Pg
紫外辐射 UV Oven nq5qUErew
太阳氙灯 Solar/Xenon JnIE6@g<y
盐雾试验 Salt Mist ^_gH}~l+U
振动试验 XY^]nm-{I
Vibration ^).
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回流敏感度 p?2^JJpUb
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耐磨试验、弯折试验... SA? lDRF
声学扫描 SAM \IaUsx"#o{
X-射线透射 X-Ray b4&l=^:e=
俄歇电子成份分析 AES 9? y&/D5O
光辐射电子显微镜 !nU|3S[b
EMMI ShesJj
有限元模拟与分析 FEA [\3W_jR
透射电镜 TEM fSVb.MZa7
聚焦离子束 FIB H/U.Bg 4
原子力显微镜 AFM bae;2| w
热力学分析 6T s[NXa
TMA/DMA />n!2'!
集成电路分析仪... ON9L+"vqv0
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS )G),iy
金相切片制样 Cross section 0^vz /y1c
染色分析 Dye and .*edaDi
pry 0`V;; w8
开封制样 Decapsulation zygH-3C7o
激光开封仪 Laser Decap 2]]}Xvx4#
光学显微镜 Optical #/>
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Microscope lVCnu> 8
拉力剪切力 Pull/Shear tester ]nNn"_qh
可焊性试验机 Solderbility tester \%&):OD1
静电/过电分析仪 @ZRg9M:N
ESD/EOS L*OG2liJ
tester `S+n ,,l
绝缘/开路电阻... 2@W`OW Njm
认证、检测与工艺分析范围： EU7nS3K)O~
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 t$
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器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； tA]u=-_h
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； . ' >d7
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 cJf&R^[T
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； h=Q2
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