| 探针台 |
2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： mYXe0E#6
原子发射光谱 ICP-OES U,Nf&g
气相色谱质谱 GC/MS X'e@(I!0
X荧光能谱 Z1u{.^~ ^z
XRF +mE y7qM
原子吸收 AAS He. gl
紫外分光 UV %7pT\8E5
离子色谱 IC +j&4[;8P:
等离子质谱 ICP-MS &%L1n?>Q}
显微傅利叶红外 XJDp%B
FTIR =9 FY;9
双晶X衍射分析仪 DCXRD , *8}TIS(s
以及其它各类分析检测仪器... QM`A74j0]\
温度冲击 Thermal Shock > y" V %
高温高湿 j%Y`2Ra
TH 6;9SU+/
老化试验 Burn-in dGMBgj
紫外辐射 UV Oven i[H`u,%+(
太阳氙灯 Solar/Xenon 0RN]_z$;H
盐雾试验 Salt Mist `$SX%AZA
振动试验 8- UlbO6
Vibration N^xnx<
跌落 Shock w0 x, ~
回流敏感度 E(*RtOC<W
MSL y[oc^Zuo
耐磨试验、弯折试验... /=A^@&:_#
声学扫描 SAM F#eZf j~
X-射线透射 X-Ray a,x-akZWf
俄歇电子成份分析 AES u ) y6 $
光辐射电子显微镜 i-~HT4iw
EMMI j8W nXp_
有限元模拟与分析 FEA cU?A|'
透射电镜 TEM yNi/JM
聚焦离子束 FIB qd(C %Wk
原子力显微镜 AFM <5rp$AzT
热力学分析 5ycccMx0V
TMA/DMA CEq0ZL-W
集成电路分析仪... :^j`wd1
h
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS Hly2{hokq
金相切片制样 Cross section ='a[(C&Y
染色分析 Dye and yt}Ve6 m
pry 2Kovvh y#
开封制样 Decapsulation ,<0R'R
激光开封仪 Laser Decap &eKnLG KD
光学显微镜 Optical vmm#UjwF3
Microscope C|bnUN
拉力剪切力 Pull/Shear tester :{bvCos<)
可焊性试验机 Solderbility tester Xd@ -
静电/过电分析仪 -61{ MMiA
ESD/EOS RT HD2
tester 0eUK'
绝缘/开路电阻... "bZ%1)+
认证、检测与工艺分析范围： l8 k@.<nCO
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 q}p&<k
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； ZpvURp,I
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； cw|3W]
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 1`J-|eH=Q
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； 0Am &:kX't
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