| 探针台 |
2019-08-07 10:54 |
失效分析、可靠性与材料理化技术
失效分析、可靠性与材料理化技术服务： p3ISWJa!
原子发射光谱 ICP-OES S1n3(U:m
气相色谱质谱 GC/MS 6#}93Dgv4
X荧光能谱 oHM
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XRF $@\mpwANl
原子吸收 AAS %xwIt~Y
紫外分光 UV JO&JP 3N1
离子色谱 IC $d+DDm1o
等离子质谱 ICP-MS 0 s#vwK13
显微傅利叶红外 9[v1h,L
FTIR s#h8%['
双晶X衍射分析仪 DCXRD oMcK`%ydm
以及其它各类分析检测仪器... *KK+X07
温度冲击 Thermal Shock T0Yiayt
高温高湿 :J }t&t
TH 2)?(R;$,
老化试验 Burn-in 6{x,*[v
紫外辐射 UV Oven eZ a:o1y
太阳氙灯 Solar/Xenon e73^#O&Xt
盐雾试验 Salt Mist eRbGZYrJ
振动试验 0Q1FL MLV
Vibration GZ!| }$ 8
跌落 Shock &m3.h!dq
回流敏感度 fsO9EEn7 X
MSL Jxf~&!zR
耐磨试验、弯折试验... 8T;IZ(s
声学扫描 SAM KDi|(
X-射线透射 X-Ray I4rPHZ|
俄歇电子成份分析 AES R8*Q$rH<
光辐射电子显微镜 =9L$L|W
EMMI CZ 2`H[8
有限元模拟与分析 FEA QH 4wUU3X
透射电镜 TEM 0)Y bI!
聚焦离子束 FIB mtic>
原子力显微镜 AFM C2]Kc{4
热力学分析 +i `*lBup$
TMA/DMA 8$ xPex~2
集成电路分析仪... 0 uVv<Q~
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS IC/(R! Crj
金相切片制样 Cross section | sqZ $M u
染色分析 Dye and G
DSfT{kK\
pry g*\/N,"z
开封制样 Decapsulation h *0S$p<[1
激光开封仪 Laser Decap 'f8(#n=6qP
光学显微镜 Optical 2. }R
Microscope t ^=U*~
拉力剪切力 Pull/Shear tester /4=-b_2Y~
可焊性试验机 Solderbility tester 3HG;!D~m;
静电/过电分析仪 RK d
ESD/EOS (%ew604X
tester NX* O_/
绝缘/开路电阻... x9>\(-uU
认证、检测与工艺分析范围： G tv,Izt
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 Tm+ ;0
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； {!ZyCi19
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； `znB7VQ0
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 *E>.)B i
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； ; :&?=d
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