| 探针台 |
2019-08-05 13:53 |
扫描式电子显微镜(SEM)技术原理
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电子显微镜是表面微细结构观察最快速有效的方法，对样品表面及横截面做微区放大观察及元件尺寸量测，放大倍率可达数十万倍，另加装的X光能谱散布分析仪(Energy Dispersive Spectrometry of X-ray, EDS)，则可以对微区材料做定性及半定量分析，对材料组成或异物成份分析有莫大的帮助。 OMAvJzK .
扫描式电子显微镜(SEM) 6w~Cyu4Ov
分析应用 Muyi2F)j
1. 对所有类型样品提供表面及横截面微细结构观察及分析。 O9rA3qv
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2. 针对多层结构样品提供精准的膜厚量测及标示。 +K?sg;
3. 藉由EDS的X光谱线分析对材料做定性及半定量分析或特定区域的点，线，面的成份分布分析。 3)y=} jw
4. 藉由低加速电压的电子束扫描做被动式电压对比(Passive Voltage Contrast, PVC)，可侦测漏电或高阻值的位置，提供异常分析之判断。
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5. 样品藉由层次去除技术(Delayer)，提供SEM做电路自动连拍拼接生成的图档，可以与光学显微镜生成的图档做纵向连结，提供电路还原逆向工程之参考。 W3jwc{lj
6. 配合微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)或光束引导热电子感应仪(Optical Beam Induced Resistance Change, OBIRCH)侦错，定位故障异常结构之位置，利用各种显微切割手术，进行精密解析，找出故障原因。 z"-oD*ICw
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