| 探针台 |
2019-08-05 13:42 |
X-光检测(X-ray)分析应用
'?k' 6R$'\
X-光检测(X-ray) &<{}8/x8(
技术原理 5 ZUy:
基本上，X-ray成像的方式，是利用穿透过被照射物体的X-ray，经过映像装置而形成可见影像，主要用来观察IC中含金属材质或结构是否有异常，举凡打线，银胶，花架等。 `t9.xB# Z
机台种类 {e6 KJ@H6
X-光检测(X-ray)分析应用 )8]3kQffJ=
此设备主要特别设计来针对PCB的组装故障检测 dqwWfn1lt
主动及被动元件的焊/锡接着状况 [iXi\Ex
孔洞数目及比例的计算
3se$,QmN
混合系统元件 ~bFdJj 1*
同时,也对以下元件提供检测感应器, 传感器 i0i`k^bA
继电器 O 'Am
RJ
保险丝,熔线 %xh?!s|G(
线圈,绕组 R }.3|0
打线状况观察 >DS}#'N4l
IC 及 晶粒 的贴附 / 黏着介面观察
|
|