| 探针台 |
2019-07-31 16:45 |
透视检测x射线分析无损检测
主要用途 ;vF8V`f
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利用X光对样品内部的结构特征进行无损检测； %dS7u $Rnh
xK0VWi
性能参数 MlsF?"H p
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a)几何放大倍数2000倍，整体放大倍数10000倍； Uz\B^"i|
)AqM? FE4R
b)2D检测尺寸：310mm ×310mm； /%rbXrR4w
]O DC+q1
c)3D检测尺寸：210mm ×100mm；样品厚度：100mm； Yk:fV &]
jfS?#;T)
d)采用数字平板探测器，灰度等级不低于16bit，像素尺寸不少于127um，像素不小于1000 x 1000 Pixel； C_PXh>H]'
J~DP*}~XK
应用范围 H PCgv ?E3
<k5Fl vE2
1.检测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板； r[ ' T.yo
JXGIVH?Rpu
2.检测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况； & .+[~2
R',|Jf=`
3.检测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷，以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷。
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