| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 O8lFx_N7Q
.:y5 U}vR
样品外观、形貌检测。 =g~ W%})
:Ca TP% GW
kUa)smh
性能参数 Oz{%k#X-
/ p)F>WR
a)总放大倍数为50x-1000x； *N F$1
/v#)f-N%zs
b)目标Z空间：0-25mm； ^ve14mbF#.
#?Mj$ZB
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； eA=WGy@IcN
L8&D(wh/f
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 y-9+a7j
gnLn7?
Jdj?I'XtY
zizk7<?L .
应用范围 MBw-*K'?zB
pu4,0bw
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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