| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 fl4z'8P"(
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样品外观、形貌检测。 V t [Kr
_P:}]5-|
j@98UZ{g\
性能参数 G(*7hs
'A#bBn,|
a)总放大倍数为50x-1000x； v?)u1-V0
9?6]Z ag
b)目标Z空间：0-25mm； "L)=Y7Dx
d$;1%rRj8
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； u~-,kF@
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 DEFh&n
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应用范围 =a]B# uUn
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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