| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 z1e +Ob&
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样品外观、形貌检测。 8r.MODZG/
jN+2+P%OL
y K2>ou
性能参数 gcM(K.n
:OaGdL
a)总放大倍数为50x-1000x； s;[64ca]Q
xNVSWi,
b)目标Z空间：0-25mm； j~ q m5}
ciPaCr V
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； z\IZ5'
Bm^8"SSN
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 (n{!~' 3
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应用范围 `? f sU
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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