| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 Z <ke!H
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样品外观、形貌检测。 hhYo9jTHW
)Tb{ O
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性能参数 $OjsaE %
4 Ag+
a)总放大倍数为50x-1000x； /<|J \G21
i_gS!1Z 2
b)目标Z空间：0-25mm；
-pX/Tt6
K HF5Nt
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； 4.??U!r>KI
G-,PsXSwe
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 TD\QX2m
nc$?tC9V
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[C7:Yg7
应用范围 h"ZF,g;a
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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