| 探针台 |
2019-07-31 16:39 |
OM分析失效分析
主要用途 T] R |qlZ
v V'EZ ?
样品外观、形貌检测。 x5|I
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OBk
性能参数 N/[p <
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a)总放大倍数为50x-1000x； O6Vtu Ws%
mH54j a2
b)目标Z空间：0-25mm； QEm|])V
Eav[/cU
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； H ;7(}:.
bADnW4N`6;
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 aC^\( wp[
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应用范围 ~fBtQGdX
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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