| 探针台 |
2019-07-31 16:36 |
样品制样失效分析
主要用途 "R9kF-
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样品外观、形貌检测。 JK_$A;Q
7L<oWAq
k2+Z7#2 n
性能参数
El+]}D"
QM _~w \
a)总放大倍数为50x-1000x； *@BBlkcx
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b)目标Z空间：0-25mm； HE, wEKp
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c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； f
Fz8m
ljf9L:L
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 5rcno.~QO
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应用范围 &WRoNc
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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