| 探针台 |
2019-07-31 16:36 |
样品制样失效分析
主要用途 [+Y;w`;Fq
Z }Z]["q
样品外观、形貌检测。 ,Taq ~
+c_8~C
d<B=p&~
性能参数 G .k\N(l
XP!7@:
a)总放大倍数为50x-1000x； H?<c eK'e
h O}nc$S
b)目标Z空间：0-25mm； H@hHEzO
\Z ms
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； ~`Xu 6+1o
0I@Cx {$
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 JPfE`NZ
8 |iMD 1
bv8GJ #
X-=J7G`\h#
应用范围 o@g /,V $
Kw ^tvRt'*
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
|
|