| 探针台 |
2019-07-31 16:36 |
样品制样失效分析
主要用途 BEN= /
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样品外观、形貌检测。 Al6)$8]e
i,Yv
ZB<goE g
性能参数 t- i;
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a)总放大倍数为50x-1000x； z4{ H=
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b)目标Z空间：0-25mm； K`768 %q
WOG=Uy$
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； mKQ !@$*
n<uF9N<
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 9 }jF]P*Q
K1]H~'
OT&J OTk\
V8 }yK$4b
应用范围 |fO Qm
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。
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