| 探针台 |
2019-07-31 16:19 |
切点分析线路修改FIB
主要用途 Nez '1 D0MW~Y6{ 芯片的电路修补、断面切割、透射电镜样品制备。 0]$-}AYM cWo__EE "Vp:Sq9y 性能参数 ac966<# gQ%mVJB{( a)着陆电压范围 - 电子束:350V~30kV Ir*{IVvej ER@RWV2 - 离子束:500V~30kV Y%@;\ Ml{4)%~Y7f b)最小分辨率 - 电子束:0.8nm/30kV 0dI7{o;<| 5B8fz;l= B - 离子束:2.5nm/30kV {0AlQ6.@> `Hv"^o c)全新的差分抽取及TOF校正功能,可实现更高分辨率的离子束成像、磨削和沉积 aSJD'u4w.a 78<fbN5}r a5d_= :S; 应用范围 :<0lC j cS@p`A7Tpo 1.定点切割 [9Tnp]q ~DB:/VSmu 2.穿透式电子显微镜试片 kE!ky\E dldS7Q 3.IC线路修补和布局验证 :O?3lj) BJLeE}=H 4.制程上异常观察分析 &zVXd HzuG- V 5.晶相特性观察分析 O`N,aYo :!fY;c? 6.故障位置定位用被动电压反差分析
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