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探针台 2019-07-31 16:19

切点分析线路修改FIB

主要用途 Nez '1  
D0MW~Y6{  
芯片的电路修补、断面切割、透射电镜样品制备。 0]$-}AYM  
cWo__EE  
"Vp:Sq9y  
性能参数 ac966<#  
gQ%mVJB{(  
a)着陆电压范围 - 电子束:350V~30kV Ir*{IVvej  
ER@RWV 2  
                - 离子束:500V~30kV Y% @;\  
Ml{4)%~Y7f  
b)最小分辨率 - 电子束:0.8nm/30kV 0dI7{o;<|  
5B8fz;l= B  
              - 离子束:2.5nm/30kV {0AlQ6.@>  
`Hv"^o  
c)全新的差分抽取及TOF校正功能,可实现更高分辨率的离子束成像、磨削和沉积 aSJD'u4w.a  
78<fbN5}r  
a5d_= :S ;  
应用范围 :<0lCj  
cS@p`A7Tpo  
1.定点切割 [9Tnp]q  
~DB:/VSmu  
2.穿透式电子显微镜试片 kE!ky\E  
dldS7Q  
3.IC线路修补和布局验证 :O?3lj)  
BJLeE}=H  
4.制程上异常观察分析 &zVXd  
HzuG- V  
5.晶相特性观察分析 O`N,aYo  
:!fY;c?  
6.故障位置定位用被动电压反差分析
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