| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
推拉力测试
测试金铝线焊球黏合力、绑线拉断强度;芯片/Die黏合力;BGA焊锡球黏合力。 p?XVO# >qC,IQ' x|lX1Mh$ 性能参数 *$yU|, dNfME*"yN a)拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择; K]c\3[vR '$\O*e' b)推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选择; /@QPJ~%8Ud ni`uO<\U c)芯片推力测试范围可在测试到0-100公斤; 0-200KG进行选择; %29lDd(< N>Q~WXvV# d)镊子撕力测试头量程为100G 和5KG进行选择; Uon^z?0A <Po$|$_~ e)BGA拔球到0-100G;0-5KG进行选择; GZWU=TC2{2 Cu&y',ee~ e> -fI_+b 应用范围 b:t|9FE% qbD>)}:1 适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电,LED,SMT组装 ,原件与基板黏合测试
|
|