| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 NFr:y<0>z
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#Cn Hf
性能参数 +MB!B9M @
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放大倍数50X，100X，200X，500X rx5B=M
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8个探针座 $Y9jrR'w
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带屏蔽箱 Lj"A4i_
Q f| U0
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应用范围 yCXrVN:`,
{66fG53x
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
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