| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 _<zfQZai
bA@P }M)X
k 1='c7s
性能参数 0 [8=c&F
(K :]7
放大倍数50X，100X，200X，500X !%PWig-
{v` 2sB
8个探针座 hoQ7).>
{G3i0 r
带屏蔽箱 #yW\5)
6X)@ajGWg~
&(blN.2
`f9gC3Hk
应用范围 2p!"p`b~
wO.iKX;
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
|
|