| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 D+bB G
r^?)F?n!
#JK;& Dg!
性能参数
f$:7A0
s-QM 6*
放大倍数50X，100X，200X，500X {Q{lb(6Ba
)2iM<-uB
8个探针座 jA20c(O
^n\9AE3
带屏蔽箱 s`$NW^']
<dju6k7uz
XkM s
_myg._[
应用范围 KzE uPJ ?
+)/Rql(lY
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
|
|