| 探针台 |
2019-07-31 16:10 |
探针测试
通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 a$=He
Y'^+ KU
-Hh.8(!XoO
性能参数 ^ 'ws/(
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放大倍数50X，100X，200X，500X PX- PVW
Pi hpo
8个探针座 L,O.XR
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带屏蔽箱 hHk9O?
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qKD
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应用范围 $(]E$ek
5{xK&[wR*
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
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