VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 xJ9aFpTC E8BIb 'b;
[attachment=93602] \P7<q,OGS 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 .FG%QF F~ 1Eb2X}XC 建模任务 EB VG@ :0Z\-7iK
[attachment=93603] < n/ 2 元件倾斜引起的干涉条纹 [0vqm:P Ub/ZzAwq
[attachment=93604] et?FX K"y 元件移位引起的干涉条纹 3S"
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[attachment=93605] _@W1?;yD 文件信息 7}vI/?r I-#7Oq:Np
[attachment=93606] OrwVRqW-z 更多阅览 SDB \6[D - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration 51Vqbtj^ - Fizeau Interferometer for Optical Testing ;Y0M]pC 4AMe>s
(来源:讯技光电)
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