VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 fc/ &X 66^ycZCH
[attachment=93602] :2njp% 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 qwIa?!8o t){"Tfc: 建模任务 V9ssH87# >^Se'SE]
[attachment=93603] f;}EhG' 元件倾斜引起的干涉条纹 C3G)'\yL hp{OL< 2M
[attachment=93604] ZeG_en ; 元件移位引起的干涉条纹 gN)c hFiIW77s2
[attachment=93605] Lm@vXgMD 文件信息 o)OUWGjb/K hJzxbr
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[attachment=93606] {.yStB.T 更多阅览 ,39aF*r1Q - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration _EF&A-kX|u - Fizeau Interferometer for Optical Testing `DT3x{}_S +7t6k7]c
(来源:讯技光电)
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