VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 e)?}2 N,XjZ26
[attachment=93602] ;\A_-a_(# 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 pJe!~eyHm ef7 U7 建模任务 0/]h"5H3 'L3MHTM>[
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U6(>6- 元件倾斜引起的干涉条纹 u*%mUh }[|9vF"g.y
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eoO,gB 元件移位引起的干涉条纹 L;*7p9 w+')wyB
[attachment=93605] rlh:|#GTJ 文件信息 Xa>'DO2 8 0nu^_
[attachment=93606] \(Nx)F 更多阅览 ]SAY\;,_ - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration Q{S{|.w- - Fizeau Interferometer for Optical Testing UZFs]z!,k h`9 & :zr
(来源:讯技光电)
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