VirtualLab:马赫-曾德尔干涉仪
摘要 u.GnXuax h[mT4e3c
[attachment=93602] .Kb3VNgwvm 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 |\,OlX, BO[:=x` 建模任务 $'J3
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[attachment=93603] 6X \g7bg 元件倾斜引起的干涉条纹 n=.P46| %_OjmXOfe
[attachment=93604] +hyOc|5 元件移位引起的干涉条纹 FnO@\{M"A Hb)FeGsd).
[attachment=93605] 'UX.Q7W 文件信息 OEW'bT) /WuYg
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[attachment=93606] ']M/'CcM 更多阅览 :7v'[b - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration QUrPV[JQ - Fizeau Interferometer for Optical Testing 2*:q$ c n#(pT3&
(来源:讯技光电)
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