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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 0 THAI
第一篇 光学多层膜设计 eo52X &I
第1章 光学薄膜特性的理论计算 Y@S6m@.$
1.1 单色平面电磁波 Zt0%E <C{
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 207oE O]
1.3 光学薄膜特性的理论计算 'wnY>h N
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 :k/U7 2
习题 ,( W98}nB
第2章 光学薄膜的设计理论 gH55c aF<
2.1 矢量作图法 g* .(!
!
2.2 有效界面法 < LAD
2.3 对称膜系的等效层 z n8ig/C
2.4 导纳图解技术 '#::ba[9w
习题 v+bjC
第3章 光学薄膜系统的设计 je3n'^m
3.1 减反射膜 $uB(@Ft.
3.2 分束镜 Q f(e 'e
3.3 高反射膜 U (7P X`1
3.4 干涉截止滤光片 P]{.e UB@c
3.5 带通滤光片 IqKXFORiNI
3.6 特殊膜系 :FpBz~!a
习题 pAmI ](
参考文献 ^O*hs%eO%
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 \9zC?Cw
第4章 薄膜制备技术 ',7Z1O
4.1 真空淀积工艺 K# < Wt5
4.2 光学薄膜材料 =PM#eu
4.3 薄膜厚度监控艺术 { F8,^+b|
4.4 膜层厚度的均匀性 XQ; d ew+
习题 JjML !;
参考文献 o?+e _n=
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 EQO7 :vb
5.1 薄膜的形成过程 1M+!cX
5.2 薄膜的微观结构 V SFl9/5?
5.3 薄膜的成分 --)[>6)I
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 +@7R,8
5.5 薄膜微观结构和改善 &r! >2$B\
习题 S @($c'
参考文献 7}.(EZ0
第三篇 光学薄膜检测技术 OAOmd
4
第6章 薄膜透射率和反射率测量 6I![ 5j
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 _lqAxWH
6.2 薄膜反射率的测试 3$;v# P$%N
6.3 薄膜反射率的测量 _nq n|
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 G [,VP C=
6.5 总结 8;3FTF
习题 t$iU|^'uV
参考文献 gk%ye&:f
第7章 薄膜的吸收和散射测量 m#'9)%t!J
7.1 激光量热计基本原理 iJ eT+}
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 sOmYQ{R
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 8+F2
!IM
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 Ta $<#wb
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 0g4cyK~n]
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 BJ/%{ C`g
7.7 总结 + P.Ir
习题 "H@AT$Ny(
参考文献 n\U6oJN
第8章 薄膜光学常数的测量 Xw)+5+t"{
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 9,+LNZ'k
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 F$C:4c
8.3 薄膜波导法 Gr ?gH AT
8.4 光学薄膜厚度的测试 v<4zcMv
8.5 总结 `mVH94{+I
习题 5Z{[.&x
参考文献 Ye\%o[X
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 Uz_{jAhW]
9.1 薄膜的力学特性检测技术 ><HXd+- sd
9.2 薄膜器件的环境试验 59u7q(
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 GEgf_C!%@
9.4 总结 9UX-)!
习题 $2 0*&4y^
参考文献 x g@;d
附录 B}.ia_&DLR
附录A 复数与复数运算 ' WoX-y
A.1 复数的概念 O"GzeEY7
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 WJWhx4Hk
A.3 复数在物理中的运用 7 m%|TwJN
附录B 矩陈及矩陈运算 i7_BnJJX{B
B.1 矩陈的定义 j43HS Y7@
B.2 矩陈运算 pQD8#y)` C
附录C 光的电磁理论基础 j*n CIxF
C.1 振动与波 }Na*jr0y9{
C.2 电磁波 3:RZ@~ u=
C.3 麦克斯韦方程 3.Qwn.
C.4 平面电磁波 #0tM88Wi
C.5 平面电磁波性质 UNJ|J$T]
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 4 2~ ;/ 4
附录D 光的干涉 +%^D)
D.1 波的叠加原理 X |as1Y$O+
D.2 杨氏干涉 &q+ %OPV
D.3 平板的表面干涉 Qw ED>G|
D.4 光的空间相干性和时间相干性 :iJ= 9
附录E 光的偏振 4CqZvd C
E.1 自然光和偏振光 71eD~fNdx
E.2 偏振光与Jones矩陈 quR':=S5f
E.3 偏振光的获得 r mhB!Lo
E.4 偏振光的检验
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