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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 D'^%Q_;u
第一篇 光学多层膜设计 ~BE=z:
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ,Ij/
^EC}
1.1 单色平面电磁波 gR_Exs'K
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 *+00
1.3 光学薄膜特性的理论计算 f]C^{Uk#
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 M"msLz
习题 SL\15`[{
第2章 光学薄膜的设计理论 r ^ '
2.1 矢量作图法 w4&\-S#
2.2 有效界面法 i[z#5;x+<
2.3 对称膜系的等效层 Bt 1v7M
2.4 导纳图解技术 JW=q'ibR
习题 +1\t 0P24
第3章 光学薄膜系统的设计 eOfVBF<C2
3.1 减反射膜 v`Ja Bn
3.2 分束镜 _Kh 8
<$h
3.3 高反射膜 v-"nyy-&Z
3.4 干涉截止滤光片 /YvwQ
3.5 带通滤光片 5yj6Maq J
3.6 特殊膜系 92N `Q}
习题 hvA|d=R(
参考文献 ER}5`*X{
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 rZ.z!10
第4章 薄膜制备技术 s heCwhV
4.1 真空淀积工艺 /1bQ
RI^\
4.2 光学薄膜材料 N] pw7S%
4.3 薄膜厚度监控艺术 Sw? EF8}[
4.4 膜层厚度的均匀性 :2XX~|
习题 ta'wX
参考文献 ivt ~ S
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 i' 1 MZ%.
5.1 薄膜的形成过程 /#q6. du
5.2 薄膜的微观结构 `_]Ul I_h
5.3 薄膜的成分 -[h|*G.J
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 '!`]Zc
5.5 薄膜微观结构和改善 ` 7?EE1o
习题 YOA)paq+
参考文献 fhC| =0XB
第三篇 光学薄膜检测技术 k 6i&NG6
第6章 薄膜透射率和反射率测量 R+=wSG ]
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 `}FZ;q3DP
6.2 薄膜反射率的测试 $ERiBALN:
6.3 薄膜反射率的测量 k%aJ% (
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 I%B\Wy/j^
6.5 总结 x`2du/
C
习题 I\Cg-& e
参考文献 ^f ,%dM=i=
第7章 薄膜的吸收和散射测量 l|;]"&|_]c
7.1 激光量热计基本原理 >Nx4 +|
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 r$x;rL4
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 T#[# w*w/
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 dx$ +,R~y
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 !! cN4X
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 ,"YTG*ky
7.7 总结 [N<rPHT
习题 ,rNud]NM8
参考文献
Oq)7XL4
第8章 薄膜光学常数的测量 ),^pi?
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 .kgt? r
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 M)H*$!x}>
8.3 薄膜波导法 +Y$EZL.A
8.4 光学薄膜厚度的测试 E Q:6R|L
8.5 总结 fX>y^s?y
习题 FJT0 lC
参考文献 ;krIuk-
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 /a 6i`
9.1 薄膜的力学特性检测技术 p\.I P2+c
9.2 薄膜器件的环境试验 c:
(nlYZ
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 t
>.=q:
9.4 总结 >gz8,&
习题 \l`{u)V
参考文献 _1~pG )y$U
附录 \5Y<UJ Ki
附录A 复数与复数运算 y!
QYdf?
A.1 复数的概念 JC;& ]S.
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 n9-W Zsc1
A.3 复数在物理中的运用 iJCv+p_f
附录B 矩陈及矩陈运算 z*9 ke
B.1 矩陈的定义 Zq5~M bldh
B.2 矩陈运算 )CgH|z:=b
附录C 光的电磁理论基础
MT$)A:"
C.1 振动与波 fVdu9 l
C.2 电磁波 \^jRMIM==
C.3 麦克斯韦方程 a>Zp?*9
C.4 平面电磁波 J"TF@7{p
C.5 平面电磁波性质 M Ih\z7gW
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 ! / =.~B
附录D 光的干涉 3e1P!^'\
D.1 波的叠加原理 "b%FkD
D.2 杨氏干涉 QZ*gR#K]Sz
D.3 平板的表面干涉 !0F+qzGG7
D.4 光的空间相干性和时间相干性 | IS$Om
附录E 光的偏振 q;7DH4;t
E.1 自然光和偏振光 c %1{l]
E.2 偏振光与Jones矩陈 ~@#a*="
E.3 偏振光的获得 :T<5Tq*+x
E.4 偏振光的检验
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