| daluo |
2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 m
.En!~t 第一篇 光学多层膜设计 nxuR^6Ai 第1章 光学薄膜特性的理论计算 :yOJL [x 1.1 单色平面电磁波 &';@CeK 1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 uBaGOW|Pl 1.3 光学薄膜特性的理论计算 I%0J=V;o{ 1.4 光学多层膜内的电场强度分布 S2=x,c$ 习题 RS7J~Q 第2章 光学薄膜的设计理论 ?Xp+5{ 2.1 矢量作图法 >k2^A 2.2 有效界面法 (Q|Y*yI 2.3 对称膜系的等效层 s%N6^}N 2.4 导纳图解技术 fa/p 习题 HDhG1B"NL 第3章 光学薄膜系统的设计 %1i *Y*wg 3.1 减反射膜 T
zHR 3.2 分束镜 Lo9
\[4FP 3.3 高反射膜 tqU8>d0^ 3.4 干涉截止滤光片 L%.=SbmS 3.5 带通滤光片 3TKl 3.6 特殊膜系 {5T:7*J 习题 !j0iLYo(* 参考文献 ,0n=*o@W 第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 y$?O0S%F 第4章 薄膜制备技术 *jy"g64j 4.1 真空淀积工艺 ^Ov+n1,) 4.2 光学薄膜材料 4 ..V 4.3 薄膜厚度监控艺术 e/IVZmUn^ 4.4 膜层厚度的均匀性 &([yI>% 习题 d 4; 参考文献 PE+{<[n 第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 uU8L 93 5.1 薄膜的形成过程 u$1^= 5.2 薄膜的微观结构 ${7s"IX 5.3 薄膜的成分 /^[K 5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 rGSi
!q 5.5 薄膜微观结构和改善 bj+foNvu\ 习题 zvbz3 a 参考文献 E._ [P/PB 第三篇 光学薄膜检测技术 AyMbwCR"X 第6章 薄膜透射率和反射率测量 |Lz7}g=6 6.1 光谱分析测试系统的基本原理 4"V6k4i5 6.2 薄膜反射率的测试 Dzw>[
6.3 薄膜反射率的测量 IpsV4nmnz- 6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 d#HN'(2t 6.5 总结 bY=Yb 习题 +L}R|ihkI 参考文献 x>[ gShAV! 第7章 薄膜的吸收和散射测量 #r80FVwiD 7.1 激光量热计基本原理 4_vJ_H-mO, 7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 !%G;t$U=M 7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 h,2?+}Fn 7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 yTU'voE.| 7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 x@<!# d+ 7.6 薄膜导波传播衰减系数法 )$E'2|Gm/ 7.7 总结 BKW%/y" 习题 )0 i$Bo 参考文献 9B1bq # 第8章 薄膜光学常数的测量 KU;m.{ 8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 8BM[c;-{g` 8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 }719_DF 8.3 薄膜波导法 &d[% 8.4 光学薄膜厚度的测试 -<q@0IYyi 8.5 总结 @-}!o&G0 习题 LwEc*79 参考文献 _zFJ]7Ym.) 第9章 薄膜非光学特性的检测技术 H?dEgubg7] 9.1 薄膜的力学特性检测技术 ^p #bxN") 9.2 薄膜器件的环境试验 &ETPYf%# 9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 F#\+.inO 9.4 总结 Bd*\|M 习题 5?gZw;yiv% 参考文献 +P"u1q*+p 附录 DBzF\- 附录A 复数与复数运算 3a6 A.1 复数的概念 w'!J A.2 复数的三角函数及指数表示方法 *uZ'MS A.3 复数在物理中的运用 M9sB2Ips< 附录B 矩陈及矩陈运算 $*dY f B.1 矩陈的定义 F5f1j]c B.2 矩陈运算 }zV#?;} 附录C 光的电磁理论基础 kX]p;C C.1 振动与波 Q02:qn?T C.2 电磁波 ]7_O#MY1 C.3 麦克斯韦方程 9 kS;_(DB C.4 平面电磁波 JWs?az C.5 平面电磁波性质 OL$^7FB C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 %Z6\W;
(n 附录D 光的干涉 ),+u>Os& D.1 波的叠加原理 "0l7%@z*)q D.2 杨氏干涉 55|.MXzq D.3 平板的表面干涉 {Ng HH]]O D.4 光的空间相干性和时间相干性 W/I D8+:i 附录E 光的偏振 >dqeGM7Np> E.1 自然光和偏振光 aQhr$aH E.2 偏振光与Jones矩陈 AZjj71UE E.3 偏振光的获得 cK+y3`.0 E.4 偏振光的检验
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