| daluo |
2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 q ajZ~oB{
第一篇 光学多层膜设计 Q4_r) &np
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ' )0@J`
1.1 单色平面电磁波 tH4 q*\U
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 qdn_ ZE
1.3 光学薄膜特性的理论计算 x"g)pGsT
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 &bz% @p;
习题 K4jHha
第2章 光学薄膜的设计理论 QS!Z*vG
2.1 矢量作图法 !#:5^":;
2.2 有效界面法 2]I l:>n,
2.3 对称膜系的等效层 !Ve0 :$
2.4 导纳图解技术 ]WY V
习题 CgmAxcK
第3章 光学薄膜系统的设计 f} "eN/T
3.1 减反射膜 <g%A2 lI
3.2 分束镜 i@.Tv.NZ
3.3 高反射膜 B}[f]8jrM
3.4 干涉截止滤光片 |Q%P4S"B?
3.5 带通滤光片 Ak,JPz T
3.6 特殊膜系 (Hj [9[=
习题 sYBmL]Hr
参考文献 tT>LOI_z
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 ?tL ' X
第4章 薄膜制备技术 !u@P\ 8M}
4.1 真空淀积工艺 D\b$$z]q
4.2 光学薄膜材料 >5#}/ G&
4.3 薄膜厚度监控艺术 ~abyjM
4.4 膜层厚度的均匀性 :CW^$Zvq
习题 Vy
I\Jmr
参考文献 Te
L&6F$
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 g i6s +2
5.1 薄膜的形成过程 &>C+5`bg
5.2 薄膜的微观结构 . Y{x!Q"
5.3 薄膜的成分 P%lD9<jED
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 'fl< ac,.
5.5 薄膜微观结构和改善 aqN{@|
习题 QMz =e
参考文献 Gmi? xGn
第三篇 光学薄膜检测技术 p|.5;)%|
第6章 薄膜透射率和反射率测量
R%RxF=@
6.1 光谱分析测试系统的基本原理
Ao8ua |:
6.2 薄膜反射率的测试 )f|`mM4DW!
6.3 薄膜反射率的测量 6" * <0
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 qvSYrnpn
6.5 总结 F0p=|W
习题 'z 5jnI
参考文献 U,#x\[3!Jt
第7章 薄膜的吸收和散射测量 4h@,hY1#
7.1 激光量热计基本原理 lbda/Zx
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 =Q40]>bpx
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 &{.IU g
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 i,r:R
g~
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 3?a`@C&x
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 zplv.cf#q
7.7 总结 F- w AQ:
习题 olv?$]
参考文献 3
R+e
第8章 薄膜光学常数的测量 }+n|0xK
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 [oV M9 Q
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 yy8-t2V
8.3 薄膜波导法 } 7
o!
8.4 光学薄膜厚度的测试 7Dbm
s(:(
8.5 总结 ?'6@m86d
习题 AJ7^'p9Y
参考文献 O'wmhLa"W
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 KJ'ID
9.1 薄膜的力学特性检测技术 rgzra"u)
9.2 薄膜器件的环境试验 o13jd NQ-
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 >|A,rE^Ojt
9.4 总结 B1)Eo2i#
习题 yO1
7C
参考文献 8xO
附录 sQ#e 2
附录A 复数与复数运算 &~P4yI;,
A.1 复数的概念 -i:WA^yKgw
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 Pl/ dUt_
A.3 复数在物理中的运用 FSA%, b; U
附录B 矩陈及矩陈运算 ~Mn3ADIb=
B.1 矩陈的定义 9Vm1q!lE
B.2 矩陈运算 sWo`dZ\6WB
附录C 光的电磁理论基础 U<w8jVE
C.1 振动与波 b!@PS$BTxq
C.2 电磁波 d#0:U
Y% ~
C.3 麦克斯韦方程 4tZ *%!I'
C.4 平面电磁波 adP :{j
C.5 平面电磁波性质 >N Bc-DX^
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 Njg$~30
附录D 光的干涉 C12UZE;
D.1 波的叠加原理 Sk|e #{
D.2 杨氏干涉 \~hrS/$[$
D.3 平板的表面干涉 N x&/p$d
D.4 光的空间相干性和时间相干性 =:s`C,l.4
附录E 光的偏振 }CBQd H&g;
E.1 自然光和偏振光 m>vwpRBOA
E.2 偏振光与Jones矩陈 c9 -$^yno
E.3 偏振光的获得 [j0[c9.p [
E.4 偏振光的检验
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