| daluo |
2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 (=B7_j rl
第一篇 光学多层膜设计 X?xm1|\
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ]1$AAmQH
1.1 单色平面电磁波 DQX x }%Px
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 _BaS\U%1(
1.3 光学薄膜特性的理论计算 XzFqQ- H
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 d#,V^
习题 R,Uy 3N
第2章 光学薄膜的设计理论 >a~FSZf
2.1 矢量作图法 hU vH
t+d
2.2 有效界面法 z9c=e46O
2.3 对称膜系的等效层 0# GwhB
2.4 导纳图解技术 &
b2(Y4
习题 5W '|qmJ
第3章 光学薄膜系统的设计 @
MoMU
3.1 减反射膜 I}3K,w/7mi
3.2 分束镜 %cjav
3.3 高反射膜 F<<H [,%0
3.4 干涉截止滤光片 aV#;o9H{
3.5 带通滤光片 jl29~^@}1i
3.6 特殊膜系 g+F_M
习题 8j +;Xlh
参考文献 E *"E{E7
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 I=I%e3GEm
第4章 薄膜制备技术 mw.aavB
4.1 真空淀积工艺 bTKx v<
4.2 光学薄膜材料 y`Y} P1y*
4.3 薄膜厚度监控艺术 Efd[ZJxS6
4.4 膜层厚度的均匀性 4tKf
习题 Li$k<AM
参考文献 ZWW}r~d{
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 k( ^ b
5.1 薄膜的形成过程 }('QIvq2
5.2 薄膜的微观结构 (G'ddZAJV
5.3 薄膜的成分 .v8=zi:7Y
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 v 65r@)\`
5.5 薄膜微观结构和改善 l8l i@K
习题 ~<R~ Q:T
参考文献 ~kFRy { z
第三篇 光学薄膜检测技术 8\_,Y
ji
第6章 薄膜透射率和反射率测量 "FD~XSRL
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 j
KK48 S
6.2 薄膜反射率的测试 wpmtv3 2 5
6.3 薄膜反射率的测量 0nn# U
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 | %9~W^b
6.5 总结 Dn! V)T
习题 y['icGU6
参考文献 >H! 2Wflm
第7章 薄膜的吸收和散射测量 94/}@<d-=
7.1 激光量热计基本原理 8b
$7#
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 ?os0JQVB
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 5 Ep
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 t?Znil| o
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 vsR&1hs
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 (ZJ_&8C#
7.7 总结 >X,6
习题 ,+{ 43;a
参考文献 Ha\ hQ'99
第8章 薄膜光学常数的测量 3M`J .>
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 Y 6Q6--P
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 JJa?"82FXZ
8.3 薄膜波导法 b*7i&q'H
8.4 光学薄膜厚度的测试 <9vkiEo
8.5 总结 'ZZ/:MvQa
习题 W[ DB !ue
参考文献 % *hBrjbj
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 ?,[w6 O*
9.1 薄膜的力学特性检测技术 m-]"I8 [
9.2 薄膜器件的环境试验 VI{1SIhfa
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 P'';F}NwfX
9.4 总结 /xnhHwJm
习题 %0'f`P 6
参考文献 qKXn=J/0tA
附录 >~ : ]+q
附录A 复数与复数运算 uNDkK o<M
A.1 复数的概念 T9 1Iz+j
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 Q=E6ZxH5;
A.3 复数在物理中的运用 lRq!|.C
附录B 矩陈及矩陈运算 yDrJn*
r^
B.1 矩陈的定义 L gYzGlJp
B.2 矩陈运算 Ig2VJ s;
附录C 光的电磁理论基础 EWi@1PAZK
C.1 振动与波 G<I5%Yo6G
C.2 电磁波 u-$AFSt
C.3 麦克斯韦方程 Z9y:}:j"
C.4 平面电磁波 j- -#vEW
C.5 平面电磁波性质 Bf.RYLsh6
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 bBf+z7iyc
附录D 光的干涉 el<nY" c
D.1 波的叠加原理 s Q$FtKm6
D.2 杨氏干涉 uB?YJf .T@
D.3 平板的表面干涉 3h>Ji1vV
D.4 光的空间相干性和时间相干性 E7,\s
附录E 光的偏振 .0
K8h:I
E.1 自然光和偏振光 'A oH2 |
E.2 偏振光与Jones矩陈 t&0p@xLQ
E.3 偏振光的获得 &+sN= J.x
E.4 偏振光的检验
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