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2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 m:5x"o7)ln
第一篇 光学多层膜设计 |6T"T P
第1章 光学薄膜特性的理论计算 uYMH5Om+i
1.1 单色平面电磁波 $x;(C[
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 `V=F>s$W
1.3 光学薄膜特性的理论计算 R0bWI`$Z
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 n+w$'l
习题 +W#["%kw
第2章 光学薄膜的设计理论 eJ_$ Etc
2.1 矢量作图法 *#c^.4$'
2.2 有效界面法 ?Suv.!wfLl
2.3 对称膜系的等效层 x_OZdI
2.4 导纳图解技术 g#r,u5<*?
习题 0 uhIJc'2
第3章 光学薄膜系统的设计 ;`rz ]7,*
3.1 减反射膜 KJCi4O&
3.2 分束镜 la A3v3*
3.3 高反射膜 X ,ok 3c4X
3.4 干涉截止滤光片 f\c%G=y
3.5 带通滤光片 !Tu 4V\^~A
3.6 特殊膜系 EQ2HQz ]
习题 Xf*}V+&WN
参考文献 T74 ."Lo#
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 R*>EbOuI
第4章 薄膜制备技术 _v +At;Y
4.1 真空淀积工艺 gtJCvVj>g
4.2 光学薄膜材料 c2Up<#t
4.3 薄膜厚度监控艺术 u#`'|ko \9
4.4 膜层厚度的均匀性 4<y|SI!
习题 6d%)MEM
参考文献 QI{<q<
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 oxJ#NG D
5.1 薄膜的形成过程 :AM_C^j~
D
5.2 薄膜的微观结构 Fu"@)xw/-q
5.3 薄膜的成分 h f9yK6
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 (qg~l@rf
5.5 薄膜微观结构和改善 \!!1 o+#1j
习题 /*hS0xN*
参考文献 X:d[eAu0
第三篇 光学薄膜检测技术 k{ibD5 B
第6章 薄膜透射率和反射率测量 Z$2Vd`XP
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 &T[BS;
6.2 薄膜反射率的测试 )ioIn`g^-
6.3 薄膜反射率的测量 ZA8 FX
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 '^~3 8=FA
6.5 总结 Xr$hQbl5D
习题 zR_yxs'
参考文献 Ng+Ge5C9
第7章 薄膜的吸收和散射测量 *&vi3#ur
7.1 激光量热计基本原理 'QxPQ cU
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 g0"KC X
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 eW zyydl
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 ">rt *?^
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 rK r2 K'
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 >TddKR @C
7.7 总结 hv 8j$2m
习题 [nG[@)G~0M
参考文献 A3mS Sc6
第8章 薄膜光学常数的测量 v m)'C C
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 I<L<xwh1(E
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 6Rc%P)6
8.3 薄膜波导法 u(P;) E"1
8.4 光学薄膜厚度的测试 "U%jG`q
8.5 总结 iMXK_O%
习题 W.VyH|?
参考文献 0fU^
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 8WRxM%gsH
9.1 薄膜的力学特性检测技术 XIJ{qr Dr
9.2 薄膜器件的环境试验 lp%i%*EQ*
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 1PdxoRa4=
9.4 总结 :z}
习题 tx{tIw^2;
参考文献 rkC6 -9V
附录 +yYSp8>
附录A 复数与复数运算 I0]"o#Lj T
A.1 复数的概念 \J?5K l[*c
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 _HkB+D0v
A.3 复数在物理中的运用 b=j]tb,
附录B 矩陈及矩陈运算 @dp1bkU
B.1 矩陈的定义 um $ K^
B.2 矩陈运算 +i.b&PF'H
附录C 光的电磁理论基础 BdZO$ALXL
C.1 振动与波 <6)
w
C.2 电磁波 1 O]27"9
C.3 麦克斯韦方程
kN,WB
C.4 平面电磁波 l\Or.I7n
C.5 平面电磁波性质 A l(u|LbQ
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 1WMwTBHy+
附录D 光的干涉 ]VS$ ?wD
D.1 波的叠加原理 U?:<clh
D.2 杨氏干涉 |xQq+e}l<
D.3 平板的表面干涉 Uv"GG:
K_
D.4 光的空间相干性和时间相干性 Sk 10"D B/
附录E 光的偏振 !rMl" Y[
E.1 自然光和偏振光 pr(16P
E.2 偏振光与Jones矩陈 $k&}{c8P
E.3 偏振光的获得 #Zy-X_r
E.4 偏振光的检验
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