| daluo |
2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 e
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第一篇 光学多层膜设计 ebn3r :IU-
第1章 光学薄膜特性的理论计算 Q r\eT}
1.1 单色平面电磁波 inY_cn?
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 Wv|CJN;4
1.3 光学薄膜特性的理论计算 ! Q WNHL
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 Llkh
kq_
习题 ^k*%`iQ
第2章 光学薄膜的设计理论 #W6 6`{>
2.1 矢量作图法 idB1%?<
2.2 有效界面法 e^em^1H(
%
2.3 对称膜系的等效层
)ut$644R
2.4 导纳图解技术 [[HCP8Wk
习题 {+zG.1o^
第3章 光学薄膜系统的设计 WH4rZ }Z`
3.1 减反射膜 tA^+RO4
3.2 分束镜 o{>4PZ}=g
3.3 高反射膜 m 62Zta
3.4 干涉截止滤光片 BYu(a
3.5 带通滤光片 T ay226
3.6 特殊膜系 "n]x%. *
习题 }]H7uC!t
参考文献 bfpeK>T
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 ]h~F %
第4章 薄膜制备技术 Ux1j +}y
4.1 真空淀积工艺 '%4fQ%ID}
4.2 光学薄膜材料 VXi U5n^
4.3 薄膜厚度监控艺术 $3B%4 #s
4.4 膜层厚度的均匀性 iZ> P>x\
习题 _h4]gZ
参考文献 +pq)
7
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 ? A;RTM
5.1 薄膜的形成过程 k-a1^K3
5.2 薄膜的微观结构 G62;p #
5.3 薄膜的成分 ]zVQL_%,
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 45n.%*,
5.5 薄膜微观结构和改善 Uj\t04
习题 8G3 Z,8P4(
参考文献 vs$h&o>|
第三篇 光学薄膜检测技术 &OZx!G^Z
第6章 薄膜透射率和反射率测量 RhKDQGdd
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 y\j[\UZKO
6.2 薄膜反射率的测试 ]KEE+o
6.3 薄膜反射率的测量 C$ K?4$
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 5 L<A7^j
6.5 总结 @{#'y4\>
习题 H{yBD xw
参考文献 9(qoME}>=
第7章 薄膜的吸收和散射测量 Z Qym8iV/
7.1 激光量热计基本原理 zRmV V}b
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 AA) p V-
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 (^W
:f{
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 %
>a
/ m.$
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 @{{L1[~:0
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 ern\QAhX X
7.7 总结 43y@9P0
习题 f d #QCs
参考文献 ;F*^c
)
第8章 薄膜光学常数的测量 Gh.? 6kuh
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 ^7ID |uMr
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 $L( ,lB
8.3 薄膜波导法 ~8 UMwpl-
8.4 光学薄膜厚度的测试 aCH;l~+U
8.5 总结 3QKB uo
习题 @aN~97
H\
参考文献 cAGM|%
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 olr#3te
9.1 薄膜的力学特性检测技术 J @~g >
9.2 薄膜器件的环境试验 a#+ $.e5
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 nu:l;+,VY
9.4 总结 +w(6#R8u5
习题 N-b'O`C
参考文献 7 p\& D?
附录 ^tSwA anP\
附录A 复数与复数运算 ]l h=ZC
A.1 复数的概念 qc.TY p
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 -6WSYpHV
A.3 复数在物理中的运用 & ^1 b]f
附录B 矩陈及矩陈运算 9=6BQ`u
B.1 矩陈的定义 4,W,E4 7
B.2 矩陈运算 )Ghw!m
附录C 光的电磁理论基础 82+2 PE{
C.1 振动与波 ">_|!B&wb^
C.2 电磁波 ~`Vo0Z*S
C.3 麦克斯韦方程 nv+miyvvm
C.4 平面电磁波 jj ;TS%
C.5 平面电磁波性质 h+!R)q8M
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 M6 quPj
附录D 光的干涉 6 <`e]PT
D.1 波的叠加原理 6Y6t.j0vN.
D.2 杨氏干涉 gBWr)R
D.3 平板的表面干涉 a%a0/!U[
D.4 光的空间相干性和时间相干性 !mWm@ }Ujg
附录E 光的偏振 9bRUN<
E.1 自然光和偏振光 v5e*R8/
E.2 偏振光与Jones矩陈 -R1;( n)
E.3 偏振光的获得 8[t*VIXI
E.4 偏振光的检验
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