| daluo |
2007-09-14 08:56 |
现代光学薄膜技术 本书目录 $?On,U 第一篇 光学多层膜设计 _)6r@fZ.p 第1章 光学薄膜特性的理论计算 +pe\9F 1.1 单色平面电磁波 E,QD6<?[ 1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 B/B`=%~5_^ 1.3 光学薄膜特性的理论计算 -c#vWuLl 1.4 光学多层膜内的电场强度分布 f7Gs1{ 习题
p4P"U 第2章 光学薄膜的设计理论 .g_^! t 2.1 矢量作图法 Gz2\&rmN 2.2 有效界面法 Rp>%umDyL 2.3 对称膜系的等效层
<3x:nH @ 2.4 导纳图解技术 (]-RL
A> 习题 zrwzI+4 第3章 光学薄膜系统的设计 L%Ms?`i, 3.1 减反射膜 be [E^% 3.2 分束镜 <&HHo>rl 3.3 高反射膜 'tt4"z2 3.4 干涉截止滤光片 f DPLB[ 3.5 带通滤光片 WA5.qw 3.6 特殊膜系 [_*?~ 习题 tUGF8?&
G 参考文献 ]2_=(N\Kt 第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 4D6LP* 第4章 薄膜制备技术 Yw\lNhoPS 4.1 真空淀积工艺 @ ZN@EOM$+ 4.2 光学薄膜材料 lInf,Q7W 4.3 薄膜厚度监控艺术 obGvd6\ 4.4 膜层厚度的均匀性 NKiWt
Z" 习题 I")mg~f 参考文献 *P?Rucg 第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 Q1(4l?X@ 5.1 薄膜的形成过程 f67t.6Vw2+ 5.2 薄膜的微观结构 W)L*zVj~ 5.3 薄膜的成分 xrkR)~ E 5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 xEufbFAN? 5.5 薄膜微观结构和改善 fM"&=X 习题 eKRE1DK 参考文献 !PgwFJ 第三篇 光学薄膜检测技术 <VhD>4f{] 第6章 薄膜透射率和反射率测量 ),2|TlQ 6.1 光谱分析测试系统的基本原理 9{Igw"9ck 6.2 薄膜反射率的测试 zX6Q7Bc 6.3 薄膜反射率的测量 T>,[V: 6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 E0.o/3Gw6 6.5 总结 @0%[4 习题 H!|g?"C 参考文献 o* e'D7 第7章 薄膜的吸收和散射测量 hRqr 7.1 激光量热计基本原理 4jzjrG 7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 ^_BjO(b'e 7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 i;\n\p1 7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 NTVaz. 7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 vSo1WS 7.6 薄膜导波传播衰减系数法 [EK@f,iM 7.7 总结 :Xu9`5 习题 Cv;#8Wj} 参考文献 yTf/]H]d 第8章 薄膜光学常数的测量 z&\N^tBv 8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 CtZOIx.;| 8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 yi2F#o 'K 8.3 薄膜波导法
Az/B/BLB 8.4 光学薄膜厚度的测试 0qW"b`9R 8.5 总结 arvKJmD 习题 *d31fBCk% 参考文献 a3,A_M}M' 第9章 薄膜非光学特性的检测技术 2s}G6'xE]P 9.1 薄膜的力学特性检测技术 D'#,%4P,e\ 9.2 薄膜器件的环境试验 7Rn
4gT 9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 k7]4TIUD* 9.4 总结 |o@U
L 习题 Z6&bUZF$bE 参考文献 (Dn1Eov 附录 l
nJ 附录A 复数与复数运算 ^FZ9q A.1 复数的概念 OyG2Ks"H A.2 复数的三角函数及指数表示方法 iDdR-T| A.3 复数在物理中的运用 Y Azj>c& 附录B 矩陈及矩陈运算 =Z..&H5i B.1 矩陈的定义 M|R\[
Zf B.2 矩陈运算 Hm+VGH'H? 附录C 光的电磁理论基础 a6?t?:~| C.1 振动与波 bGK-?BE5+A C.2 电磁波 ]$Q@4=fb C.3 麦克斯韦方程 w|4CBll C.4 平面电磁波 :_Iz(
2hV C.5 平面电磁波性质 qHPinxewx C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 9%riB/vkrF 附录D 光的干涉 C8=r sh D.1 波的叠加原理 !e+Sa{X D.2 杨氏干涉 <- R% D.3 平板的表面干涉 t0Inf
[um D.4 光的空间相干性和时间相干性 + -rSO"nc 附录E 光的偏振 i8%Z(@_` E.1 自然光和偏振光 r4fd@<=g E.2 偏振光与Jones矩陈 n^nQrRIp E.3 偏振光的获得 5C9
.h:c4y E.4 偏振光的检验
|
|