| xunjigd |
2018-05-30 10:56 |
光学断层扫描干涉法
摘要 }Fb966 $ R1C2d +L 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 c$~J7e6$ f}{Oj-:"CC [attachment=84368] m,#Us XMm(D!6 建模任务 w"A%@<V3Ec ]hlYmT [attachment=84369] o&Sv2"2 1zc-$B`t 结果 ]M/*Beh l8By2{pN [attachment=84370] J]qx4c U$T
(R2@ 文件信息 l5,}yTUta ?Fj>7 [attachment=84389] uqK[p^{ DK }1T (来源:讯技光电) 21.N+H'
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