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2018-05-30 10:56 |
光学断层扫描干涉法
摘要 #4./>}G xT]t3'y|- 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 URs]S~tk g(W+[kj) [attachment=84368] pS|K[:5 2]Il:>n, 建模任务 !Ve0 :$ \8=)X} ) [attachment=84369] CgmAxcK pZ}B/j 结果 2|=hF9
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