| xunjigd |
2018-05-30 10:56 |
光学断层扫描干涉法
摘要 FWuw/b$
7]p>XAb
扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 p Tcbq
C1h#x'k
[attachment=84368] 1S+;ZMk
tRLE,(S,-
建模任务 5JS ZLC
8{R&EijC
[attachment=84369] J6*f Uh
;c1relR2
结果 Ee { `Y0
Wu4 ot0SZ
[attachment=84370] 9 0X?1
qOW#Q:T
文件信息 "Owct(9
k) "ao2iXL
[attachment=84389] cb +l"FI7
Z+NF(d
（来源：讯技光电） t2"@Ps&1|
|
|