xunjigd |
2018-05-30 10:56 |
光学断层扫描干涉法
摘要 mN{H^ ZL0Vx6Ph 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 sQ\HIU%] V(K;Gc [attachment=84368] b&E"r*i| OD[=fR|cp 建模任务 .I|b9$V 8)iI=,T* [attachment=84369] Wx#l}nD x2fqfrr_] 结果 'S}3lsIE N4qBCBr( [attachment=84370] _T.`+0UV *eXs7 "H 文件信息 Edc3YSg%; 3s]o~I 2x [attachment=84389] \5N\NN @J TPx0LDk%( (来源:讯技光电) *>aVU'
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