首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> FRED,VirtualLab -> 光学断层扫描干涉法 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

xunjigd 2018-05-30 10:56

光学断层扫描干涉法

摘要 #4./>}G  
xT]t3'y|-  
扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 URs]S~tk  
g(W+[kj)  
[attachment=84368] pS |K[:5  
2]I l:>n,  
建模任务 !Ve0:$  
\8=)X})  
[attachment=84369] CgmAxcK  
pZ}B/j  
结果 2|=hF9  
.|^Gde  
[attachment=84370] mvK^')  
0FtwDM))  
文件信息 q)L4*O  
'~Cn+xf4]  
[attachment=84389] p]EugLEmG  
nq HpYb6I0  
(来源:讯技光电) YI ?P@y  
evildemon 2018-11-01 20:13
学习学习
查看本帖完整版本: [-- 光学断层扫描干涉法 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计