X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 4\y>pXML-U  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 :~\ y
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技术参数 5@EX,$h  

波长范围 #C+7~ns'	5-20 bYwe/sR	10-60 ,B$e'KQ	25-80 fKNDl\SD
光源距离（m） \:>eZl?	`o6T)49	0.4-0.6 B&?xq)%*#	0.5-1.5 4IXa[xAm
平场尺寸（mm） D)bR-a_^	25.4 X!K:V~WG	50 [='<K	50 Z4{~
色散(nm/mm) e!P]$em|1E	0.5-0.7 oB%j3aAH	0.7-1.1 #Kt5+"+7	0.9-1.3 vjd;*ORB
光谱分辨率（nm）  EHda	0.06 S<>u	0.09 VE*&t>I	0.11 YQaL)t$0
(5>IF,}!L	' eH Fa	T^H`$;\	>/7[HhBT
升级波长范围 p1fy)K2{,j	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) >:P-3#e*
探测器选择 2fG[q3`	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 j]
光栅台  &W? hCr	电控 2qPQ3-'
工作环境 4H hQzVM{	<10-6mbar uY:u[
操作性 C[nacAi	极易安装使用，用户自己即可安装使用 ?Bsc;:KF

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技术优势介绍： :+UahwiRD"  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 AUPTtc`#Y  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 tV9K5ON  
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-平场成像技术 yYvv!w+@Q  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 W)2ZeH*
  
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紧凑/模块化 q[TW  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） WxS$yUu  
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结实耐用无需准直 ?o_D#gG*  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降
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- 定制化 7_ao?}g  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 |oTA$bln  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 8&++S> <  
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典型客户： nHIW_+<Mf  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) k>!A~gfP~  
   
2. < >Los Alamos P~u~`eH*  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828