北京佳诺贝-等离子体分析设备-激光干涉仪

北京佳诺贝科技有限责任公司是由留学归国人员创立的集研发、生产、销售和服务为一体的高新技术企业，座落于北京师范大学科技创新园区，致力于高低温等离子体物理特性的分析与诊断。 h5do?b v!  
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佳诺贝科技汇聚了国内著名研究所、学府的技术与管理精英，并邀请相关领域专家担任公司的技术顾问。依托强大的研发和技术服务团队，佳诺贝科技以专业的水准为客户提供精准、省时省力分析和测量方案，并提供完善的技术支持与售后服务。与此同时我们还计划代理国内外的光电产品，以期为广大科研工作者提供更好的科研问题解决方案。 v"K #  
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目前企业研发的产品以光学等离子体探测仪器为主，集成背光、自发光以及可见光谱等多通道诊断方案，可以同时测量等离子体形貌、温度、密度、磁场等信息。 V(^aG=TaW:  
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企业文化： gl$Ks+od  
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口号：专业、求真、务实 ;GjZvo  
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主要产品： Uh tk`2O  
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简介：激光干涉仪，是利用光学探针对待测等离子体诊断的科学仪器。偏振探针光经过等离子体后，通过成像透镜，先在焦点处会聚，再以球面波向前发散。发散的球面波被Wollaston棱镜分成振幅相等、偏振方向分别为水平和垂直的两束光，这两束光的反向延长线分别在焦点上下会聚。两束光经过置于像面前、和起偏器平行或垂直的检偏器后在像面上发生干涉。 w~n7l97Pw  
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JGGS-01选用高品质的Thorlab公司生产偏振片以及Wollaston棱镜作为干涉元件，并提供准直小激光器一台。根据多年使用经验，精简不重要的调节机构，整个产品结构紧凑、简单易用。 0]._|Ubn6)  
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参数： ))<1"7D^^  
        密度范围：10e15-10e21 cm−３ WYayr1  
        条纹和成像可调： 9td[^EB#(h  
        记录介质：光学CCD w9c^IS  
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说明： !idQ-&  
        密度范围：10*10e15-10*10e21 cm−３，根据实际需要，可更换探针光波长获得不同测量范围； Ug1[pONk  
        适用：低温放电等离子体，尘埃等离子体、激光等离子体等 iYE7BUH=  
        JGGS－01目前配备高端工业级CCD，预留科学级CCD接口，可以为客户提供相关升级服务，如时间分辨的诊断等。 _Dv<  
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JGGS-02 rRK^vfoJ`  
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简介：激光干涉和阴影成像仪，是利用光学探针对待测等离子体诊断的科学仪器。偏振探针光经过等离子体后，被同时分为两个通道分别通过成像两个透镜，其中一个通道产生与JGGS-01相同的干涉图像。另外一个通道通过成像透镜，可以产生与通道1相同放大倍数的等离子体阴影图像。客户可根据两组图像相互参考来更好的理解等离子体物理过程。本产品JGGS-02选用高品质的Thorlab公司生产光学元件，并提供准直小激光器一台。根据多年使用经验，精简不重要的调节机构，整个产品结构紧凑、简单易用。 B4>kx#LR  
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参数： EK JPeeRY  
        密度范围：10e15-10e21 cm−３ Onqd2'%<  
        条纹和成像可调，滑轨调节。 @ a$HJ:  
        记录介质：光学CCD ER)<Twj  
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说明： KkF3E*q\H  
        密度范围：10e15-10e21 cm−３，根据实际需要，可更换探针光波长获得不同测量范围； CQ( _$  
        适用：低温放电等离子体，尘埃等离子体、激光等离子体等 M }H7`
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        JGGS－02目前配备2台高端工业级CCD，预留科学级CCD接口，可以为客户提供相关升级服务，如时间分辨的诊断等。 *@
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JGGS-03 Z ^w5x:  
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简介：激光干涉阴影磁场成像仪，是利用光学探针对待测等离子体诊断的科学仪器。偏振探针光经过等离子体后，被同时分为三个通道分别通过三个成像透镜，其中两个个通道产生与JGGS-01和JGGS-02相同的干涉阴影图像。另外一个通道通过偏振片或者格兰棱镜，可以产生与通道1相同放大倍数的等离子体阴影图像，通过旋转偏振片角度测量偏光度，进而利用法拉第旋转原理测量等离子体磁场。客户可根据三组图像相互参考来更好的理解等离子体物理过程。本产品JGGS-03选用高品质的Thorlab公司生产光学元件，并提供准直小激光器一台。根据多年使用经验，精简不重要的调节机构，整个产品结构紧凑、简单易用。 )}KQtkU8:  
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参数： eT4+O5t  
        密度范围：10e15-10e21 cm−３ 9tt0_*UX  
        磁场测量范围：0.01-100 兆高斯 Z#i5=,Bk  
        条纹和成像可调，滑轨调节。 7ql&UIeQ  
        记录介质：光学CCD J(s%"d  
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说明： Z\)emps  
        密度范围：10*10e15-10*10e21 cm−３，根据实际需要，可更换探针光波长获得不同测量范围； _]Ei,Ua  
        适用：低温放电等离子体，尘埃等离子体、激光等离子体等 yVP 1=pz_[  
        JGGS－03目前配备3台高端工业级CCD，预留科学级CCD接口，可以为客户提供相关升级服务，如时间分辨的诊断等 5ZPe=SQ{  
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