上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 ?N,'1I  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 <
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网址:www.sci-soft.com l0 H,TT~2  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. wR?M2*ri   
A)    薄膜测量/测试 软件 /]Fs3uf  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) p0xd c3  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 Ok+zUA[Wu  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) BHE((3  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) ai(<"|(  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 bc"E=z  
}*~EA=YN;  
B) 薄膜测量 仪器 U-I
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ C^S?W=1=w  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ PnsQ[}.  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b {6v|d{V+e  
Standard Spectral Range标准光谱范围F kyQ%qBv ^  
Reflection反射测量, x+vNA J  
Transmission透射测量5wIBS\ ={?}[E  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY )
>atoA  
Power Spectral Density功率谱密度测量a _dj<xPO  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y q
!k F  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] ujZki.x  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% ,epKt(vl  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F w|x=^  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n S<f&?\wK=v  
Composition成分测量c*'nh) C+Wb_  
Crystallinity晶状测量DTE; C|Bk'<MI  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF BciwS_Qx  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" $jb0/  
etc. 等等 n37C"qJ/i  
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Typical  applications典型应用:P jMUE&/k  
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OLED有机发光二级管薄膜 36JVnW;  
Flat panel display平板显示器薄膜 =iRi9r'l  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 )#MKOsOct  
Computer disks计算机磁盘薄膜 kwdmw_  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 h:(Jes2   
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 lph3"a^  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 v@;:aN  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` <pGPuw|~I  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 Z!C\n[R/  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC 0/<}.Z]  
etc. 等等 -8qLshQ  
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电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
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