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    [求助]请教关于材料属性和面属性的问题 [复制链接]

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    离线kuailezj
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    只看该作者 10楼 发表于: 2005-12-01
    表明属性中的absorptance会不会随着波长和温度的变化而改变呢 !:3.D,  
    还有材料属性中的index是什么意思呢
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    只看该作者 11楼 发表于: 2005-12-01
    你可以在网上找找，有相关的公司问问，PMMA这样的材料很多厂家的参数都不一样。
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    只看该作者 12楼 发表于: 2005-12-01
    表面属性中的absorptance随着波长和温度的变化而改变 `yO'[2  
    材料属性中的index是所给波长下的折射率大小。
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    只看该作者 13楼 发表于: 2005-12-02
    既然表面属性中的absorptance随着波长和温度的变化而改变 E4z)Mr#  
    那么我们怎么设计光学元件的absorptance呢
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    离线arkshell
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    只看该作者 14楼 发表于: 2005-12-02
    下面是引用kuailezj于2005-12-01 10:03发表的: PNs~[  
    表明属性中的absorptance会不会随着波长和温度的变化而改变呢 Z @ dC+0[=  
    还有材料属性中的index是什么意思呢
    ').}Nz  
    表面属性的吸收率可以指定某波长和某温度下的大小 {i0SS  
    index指材料折射率，更具体的指某指定波长在该材料中的折射率
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    只看该作者 15楼 发表于: 2005-12-03
    表面属性的设置是根据经验来设置的吗，是不是如果光学元件表面镀模也要在这上面来设置
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    只看该作者 16楼 发表于: 2005-12-03
    下面是引用kuailezj于2005-12-03 10:22发表的: |F,R&<2  
    表面属性的设置是根据经验来设置的吗，是不是如果光学元件表面镀模也要在这上面来设置
    ]D[DU]K  
    我是设计背光的，多是根据经验和实际材料的工艺来设置。 eAv4FA4g  
    MYJg8 '[j  
    TracePro里面有多层薄膜的属性Thin Film Stacks，估计这个是用来设计与镀膜相关的，但我目前还搞不明白这个怎么用，在Property对话框里面找不到相应的选项：（
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    离线arkshell
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    只看该作者 17楼 发表于: 2005-12-03
    下面是引用arkshell于2005-12-03 16:52发表的:
    我是设计背光的，多是根据经验和实际材料的工艺来设置。
    TracePro里面有多层薄膜的属性Thin Film Stacks，估计这个是用来设计与镀膜相关的，但我目前还搞不明白这个怎么用，在Property对话框里面找不到相应的选项：（
    Q+4Xs.#  
    研究了一下说明书，终于明白镀膜的设计需要用到Thin film stacks。。。
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    离线kuailezj
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    只看该作者 18楼 发表于: 2005-12-03
    我照着做了那个镀模相关的，但是在表面属性中我只能应用到软件中现成 KII *az  
    的镀模，自己新编的镀膜好像在suface property中没有办法选择
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    离线arkshell
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    只看该作者 19楼 发表于: 2005-12-04
    下面是引用kuailezj于2005-12-03 20:40发表的: 2$Tj84'X  
    我照着做了那个镀模相关的，但是在表面属性中我只能应用到软件中现成 M@5?ZZ4L  
    的镀模，自己新编的镀膜好像在suface property中没有办法选择
    KQ~i<1&j  
    KN*  
    是啊是啊，这里居然创建的不能应用，真是郁闷透顶 uvrB5=u  
    @;'o2   
    继续研究了，哪位知道的不要忘了提醒一下。。。。。
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