面對競爭激烈的背光模組市場，因為關鍵零件如
光源、Film材的專利都掌握於少數美、日廠商中。所以台灣廠商積極於提升導光板的提升光學效能與設計來進降低對關鍵零件的依賴程度。
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r6GXmr 目前市場上已有將集光片改為逆向的設計除能降低Bef數量外更能藉由底部V CUT的結構提升產品之光學效能。因為逆菱鏡片的應用理論不同於以往的BEF正菱鏡構造，Mitsubishi Rayon提供的逆菱鏡結構本身就有3-4種不同的角度設計。
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右圖為單面網點及雙層集光片模組：該光學系統由3mm厚之導光版，4面框架，底部主反射片，單支CCFL光源構成。外加2片3M Bef2增光film材構成
&XC P @@T 8 Vf #t!t SPEOS能夠輕易的將多種不同且大量的複雜微結構建入不論是v形、梯形、圓柱形…的結構都能靈活的定義，在工程師完成底部v cut 的設計與模擬之後。近一步將結果圖像化後轉入Auto
CAD或其他的佈點軟體，進行網點的設計應用點狀結構將光域分佈進行均勻化設計。讓工程師能有修改及設變的方向達到快速進行結構的光學設計、模擬。並縮短產品開發流程與降低高輝度背光模組的成本的要求。
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TO.STK` 上圖為V cut +上層網點+單層逆菱鏡片該光學系統由3mm厚之導光版，4面框架，底部主反射片，單支CCFL光源構成。外加1片逆菱鏡增光film材構成。
,:2Z6~z{ 光場分佈比對：單面網點+雙層Bef 與vcut+網點+單層逆菱鏡片之光場比對。藍色為單面網點+雙層Bef，綠色為v cut+網點+單層逆菱鏡片。Vcut +上層網點+單層逆菱鏡片結構之光場效能，較單面網點+2層bef增加20%。同時也不會造成可視角的縮小。
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t2Jf+t_B7 不同系統之輝度luminance模擬結果比對。單面網點+雙層Bef輝度luminance模擬結果之中央輝度值。透過SPOE 的輝度(Luminance) 模擬功能可以明顯感受到中央輝度的提升，並可由網點設計的靈活度有效將亮區集中在中央，同時兼顧輝度提升與均勻性。輝度模擬的功能可以任意調整觀察點的位置來進行觀察，或設定數個detector可以在一次模擬中獲得所有結果。
[ r 左圖為單面網點之結果、右圖逆菱鏡片之結果
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