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薄膜设计与镀膜工艺 12.4-6号上海线下专题课程
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[培训]
薄膜设计与镀膜工艺 12.4-6号上海线下专题课程
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infotek
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楼主
发表于: 43分钟前
薄膜
设计与
镀膜
工艺
_-R&A@
时间地点
6]^~yby P
主办单位
:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:讯技光电
INFOTEK
)
?s-Z3{k
苏州黉论教育咨询有限公司(微信公众号:
honglun-seminary
)
xe&w.aBI>
课程时间:
2026/12/4
(四)
-12/6
(日)
DCheG7lo{
课程
地点
:
上海讯技
2N}U B=J
课程讲师
:讯技光电工程团队成员
u= =`]\_@
课程费用
:
4800RMB/1
人次
(
包含课程材料费、开票税金、午餐费
)
`Q!#v{
课程简介:
sq45fRAi
随着现代科技的飞速发展,
光学
薄膜的应用越来越广泛。光学薄膜的发展极大地促进了现代光学仪器性能的提高,其种类非常广泛,如增透膜,高反膜,分光膜,滤光片等,光学薄膜器件如今已经广泛应用到光通信技术、光伏产业技术、
激光
技术、光刻技术、航空航天技术等诸多领域。
9{cpxJ
本次课程第一天主要为国际知名的光学薄膜分析
软件
Essential Macleod的使用,第二天为各种类型的光学薄膜的设计
模拟
方法,前两天主讲人为讯技光电高级工程师,第三天特别邀请上海光学精密机械研究所专家易葵,分享光学薄膜制备工艺、激光薄膜关键技术以及光学薄膜的测量方法等相关内容。
b uu /Nz$
易葵:中国科学院上海光机所正高级工程师,主要从事光学薄膜设计、制备工艺和测试相关方面的研究工作,尤其是在高功率激光薄膜、空间激光薄膜、
X射线多层膜、真空镀膜技术与薄膜制备工艺研究等方面有较为深入的研究。获得国家技术发明奖二等奖、上海市技术发明奖一等奖、上海市科技进步二等奖、军队科技进步二等奖等奖项,入选2014年度中科院“现有关键技术人才”。
]=Dzr<*v
_wp_y-"
课程大纲:
@km@\w
1.
Essential Macleod
软件介绍
Q^{XM
1.1
介绍软件
/Pyj|!C3`q
1.2
创建一个简单的设计
B~h3naSe
1.3
绘图和制表来表示性能
=MjkD)l
1.4
通过剪贴板和文件导入导出数据
M->BV9
1.5
可用的材料模型(
Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann
)
ak"W/"2:
1.6
特定设计的公式技术
?e#bq]
1.7
交互式绘图
L:_GpZ_
2.
光学薄膜理论基础
PY76;D*`
2.1
垂直入射时的界面和薄膜特性计算
WXs?2S*
2.2
后表面对光学薄膜特性的影响
V]5MIiNl
3.
材料管理
$V\Dl]a1
3.1
材料模型
NyR,@n1
3.2
介质薄膜光学常数的提取
=fcM2O#$
3.3
金属薄膜光学常数的提取
''?iJFR
3.4
基板光学常数的提取
HDYWDp
4.
光学薄膜设计
优化
方法
0$B X8?Z
4.1
参考
波长
与
g
Mc9J Fzp
4.2
四分之一规则
&Sdf0"
4.3
导纳与导纳图
`V2doV)
4.4
斜入射光学导纳
wA2^I70-
4.5
光学薄膜设计的进展
t\XA JU
4.6 Macleod
软件的设计与优化功能
"8iIOeY-\
4.6.1
优化目标设置
{`ByZB
4.6.2
优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法)
w'6sJ#ba(
4.6.3
膜层锁定和链接
.(%]RSBY
5.
光学薄膜
系统
设计与分析案例与应用
M)"'Q6ck=
5.1
减反射薄膜
jR2^n`D
5.2
分光膜
O<P(UT"
5.3
高反射膜
_ -|+k
5.4
干涉截止滤光片
"SA*
5.5
窄带滤光片
T"/dn%21
5.6
负滤光片
"9X1T]
5.7
非均匀膜与
Rugate
滤光片
Vtv~jJ{m
5.8
仿生蛾眼
/
复眼结构
64qqJmG3
5.9
颜色膜
#H]c/
5.10 Vstack
薄膜设计示例
"BZL*hHq
5.11 Stack
应用范例说明
<<PXh&wu0
6.
薄膜性能分析
AD~_n^
6.1
电场分布
j;J`PH
6.2
公差与灵敏度分析
%uz6iQaq]X
6.3
反演工程
K]&i9`>N
6.4
均匀性,掺杂
/
孔隙材料仿真
1 T}jK^"
7.
真空技术
wlFK#iK
7.1
常用真空泵介绍
_H"_&m$aDm
7.2
真空密封和检漏
AAF']z<4_"
8.
薄膜制备技术
TDX~?>P
8.1
常见薄膜制备技术
Zg9VkL6Z6
9.
薄膜制备工艺
H6hhU'Kxf8
9.1
薄膜制备工艺因素
~t<uX "K
9.2
薄膜均匀性修正技术
VA@
9.3
光学薄膜监控技术
E(_lm&,4+
10.
激光薄膜
T m2+/qO,
10.1
薄膜的损伤问题
/*(&Dmt>
10.2
激光薄膜的制备流程
D `av9I
10.3
激光薄膜的制备技术
x~ID[
11.
光学薄膜特性测量
|$Cfm}
11.1
薄膜
光谱
测量
N%S|Ey@f
11.2
薄膜光学常数测量
p2 !w86 F
11.3
薄膜应力测量
d~q7!
11.4
薄膜损伤测量
Sqx'nXgO
11.5
薄膜形貌、结构与组分分析
KMx '(
32Wa{LG;2
有兴趣学习者请联系微信号18019382784
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