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摘要 Lt>IX") : eVq#3} 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 =Jb>x#Y H"WprHe P\k# >}} C e$w8z 建模任务 E hMNap}5" $*fMR,~t& s!$7(Q86R
mc\"yC^s 7zG_(83)K 准直系统 {3aua:q YNi.SXH {R6ZKB f%}xO+.s 非序列追迹 A~70 ~b8]H|<'Y
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$f7l34Sf3 t*w/{|yO 系统光线追迹结果
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