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'm TQ=1 HJ_8 `( ' 元件内部场分析器：FMM允许用户可视化和研究微
结构和
纳米结构内部的电磁场分布。为此，使用傅立叶模态法/严格耦合波分析（FMM/RCWA）计算周期性结构（透射或反射、电介质或金属）内部的场。还可以指定场的哪一部分应该可视化：正向模式、反向模式或两者同时显示。
q|sT4}
= JLak>MS 元件内部场分析仪：FMM A=+1PgL66 ) W/_2Q. KP)t,\@f! 元件内部场分析器：FMM是
光栅光学装置的独有功能，可提供光栅结构内部电磁场的可视化。
*| as-!${k `b KJ 评估模式的选择 <<PXh&wu0 t\WU}aKML )4R[C= { 为了更容易地区分入射场、反射场和透射场，可以仅评估正向或反向传播模式，或者评估两者的总和。
: ?j]W2+kR UCo`l~K)qg 评价区域的选择 }Ud'j'QMy e^ k)756 
3/ '5#$ jbe_r<{ 元件内部场分析器：FMM可以输出整个元件（包括基板）内部的场，或者只输出一个堆栈或基块（基板）中的场。
3M q%3jX zm mkmTp 不同光栅结构的场分布 H6hhU'Kxf8 A_Y5 {6@ 任意形状的光栅结构可以通过元件内部场分析仪进行分析。以下是几个例子：
quS]26wQz 7l4}b^>/` &ZL4/e 光栅结构的采样 *z^Au7,& D
`av9I 虽然分析仪为输出数据提供了一些采样选项，但
系统中定义的光栅表面必须正确采样（例如，分解点和过渡点的层数足够）。
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s 8.nL/ 
u{ cb[M n?QglN 分解预览展示了如何根据当前采样因子对光栅结构进行采样。
>*EJ6FPO n-{.7 光栅结构的充分采样意味着已经实现了收敛，即进一步增加采样不会显著影响产生的场。例如，如果层分解过于粗糙，则可能会由于纵断面中的大台阶而产生其他影响。
+k V$ @qH b!qlucA eE _ BoA&Ism 输出数据的采样：一维周期光栅（Lamellar） 9&zQ 5L>
i (`Q{l p }e| E! 对于1D周期性（片状）光栅，分析仪使用对话框“采样”部分中指定的
参数生成2D横截面
图像。
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, n5y0$S/ D 输出数据的采样：二维周期光栅 .O SQ8W } h!`KX2~ 当分析的光栅设置为2D Periodic时，Field Inside Component Analyzer：FMM将通过结构生成一系列二元截面，z方向的采样参数决定执行的切割次数。
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