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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 `!N}u  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ldp9+7n~  
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    1. 案例 C@ q#s  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 iB W:t  
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    1. 系统构建模块 '"7b;%EN'  
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    2. 组件连接器 x*F- d2D  
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          ) q'D9x9  
    几何光学仿真 "4WnDd 5"  
     U}X'RCM  
    以光线追迹 %Bm{ctf#)  
     "zNS6I?rzE  
    1. 结果：光线追迹 0$`pYW]  
    lU Zj  
    ,2Ed^!`  
          vA:ZR=)F  
    快速物理光学仿真 p#4*:rpq4  
     m=E/um[D  
    以场追迹 *>qc6d@'  
     /cdLMm:  
    1. NA=1.4时的光栅成像 P]^8Enp  
    BTr;F]W  
     uZ_?x~V/  
    Q?j '4  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 ,^mEi  
       sdCG}..`  
    <astIu Au  
    ~2hzyEh  
    3. NA=0.5时的光栅成像 11QZ- ^  
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    Oz\J+  
     
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