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摘要 rt)[}+ox s6;ZaU
# M3d = 0f3>s>`M 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 R Eo{E 37tJ6R6[ 建模任务 .]<iRf[\[ N0K <zxR
`tKs|GQf Rf=-Q
% 由于组件倾斜引起的干涉条纹 pA@R,O>zr .ubZ
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Fy6Lz.baB k#V\O2lb 文件信息 =XSupM[T dd6l+z
H~ >\HV* v.,D,6qZ ~Hx>yn94e QQ:2987619807 nx{X^oc8e
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