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摘要 vNwSZ{JBd t+TbCe
H:nu>pzt PezWc18 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 9@&Z`b_ >+c`GpZH 建模任务 qh'f,#dI} F|3FvxA
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4 d 1Y\ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 K+TTYQ zR/p}Wu|!
NB yN}e b<H6D} 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 1V9X(uP 7g<`wLAH
)PZ}^Fa N55=&-p 文件信息 +cOI`4`$ TH}ycue
@p'v.;~# u5)A+.v aw@Aoq QQ:2987619807 an5kR_=
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