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案例315.01:光栅起偏器的参数优化 `x
_(EZ \)uA:v 这个案例说明了对于一个用于VIS光起偏的亚波长光栅的参数优化过程。 l([aKm# Jb*QlsGd 关键词:参数优化,光栅,起偏器,亚波长 6ZHeAb]" "A
Bt 所需工具箱:高级光栅工具箱 |^5"-3Q 4bL *7bA 相关案例:100.01,101.01 Rjq\$aY}% @hA`f4^ 相关教程和技术说明:Tutorial 101.01, TN.021 7/hn%obC kI(3Pf]. 建模任务: CQ6I4k ELnUpmv\ 平面波入射周期为200nm的镀铬线性矩形光栅,基底为融石英,产生TE模的起偏。 1HNP@9ga ["&{^ ?'f 优化目标: s/hWhaS< 9b=0
4aWHm —TE模偏振光的透过率最大化 MQw}R7 D['J4B —TM模偏振光的透过率最小化 HEFgEYlO [8Y7Q5Had 优化函数: |LC"1 k y{3+Un —最小化TE的透过率 :atd_6 1-^D2B[- —最小化偏振度(要求>50:1)
K!9K^ h (Ox&B+\v+v
Pi5MFw'v j$_?g!I=gK —使用力优先级使TE透过率的均匀误差最小化 .F@Lx45 X(x,6cC
]s5e[iS @a]cI 优化的自由变量为: %E@o8 XYP
RMa? —缝宽:10—190mm n6Uh%rO7S| 3,v/zcV —光栅深度:20—200nm H?;+C/-K`_ L`<#vi 优化算法: k?Hi_;o 7Dssr [ —使用Parameter run 进行一个全波长的全局搜索使得TE透过率的最大值最小同时使得偏振对比度的最大值最低。全局搜索不是强制的,但是它帮助确定在几个最大值和最小值之间确定优化参数的起始点。 ;0kAm
Vy —参数优化使用下山简法(局部优化)和模拟退火法(全局优化)。参数优化使得找到在偏振对比度和TE透过率之间的一种平衡。 T'7>4MT( +~G:z|k 光路流程图和偏振分析器: \; '#8 #y#TEw, 偏振光栅的光路流程图存储在文件“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_01”中。 =/a`X[9vI ^kcuRJ0*$ 对于给定的波长范围,偏振分析器被用来计算相关偏振方向的最大和最小值。并可以计算 和 的反射或透射的最大和最小值。像偏振对比度这样高级的优化函数也可以被计算出来。 VFZyWX@#u FLQke"6i0: Parameter Run 的全局搜索: v `/nX-> X:`=\D Parameter Run文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_02”中。 vgtAJp+p* i03S9J Parameter Run 设置 um$U3'0e dkEbP*yXg 缝宽:10—19nm 步长10nm; <`Fl Igo r0k:RJP 规划深度:20——200nm 步长10nm; ~DxuLk6
s l[5** ?# 使用扫描模块进行所有参数的整合研究。 "wV c%,ky$'18 在自由参数模块中选择深度和缝宽。 NMw5ixl sV5k@1Y 使用扫描模块进行参数联合调查。 KQ9w>!N[ 优化函数依据迭代次数进行显示: dbEXlm UK^w;w2F 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 _Fj\0S" xv$fw> TE透过率和偏振对比度对于不同参数设置已经达到了最大化。
vxPr)"Vvz rr`_\ut 参数构成: }vB{6E+h/w o-_,l
J7o^ 缝宽50nm,规划深度200nm;最小TE透过率72.7%;最小偏振对比度62;TE透过率均匀误差7%; aDz%
%%:r
<w~$S0_ 局部参数优化: })@xWU6! rLD1Cpeb,w 使用局部参数优化的参数优化文件存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_03”中。 D6e?J. [8tpU&J 起始值为:缝宽:50nm,规划深度200nm; RjP]8tH& 7?k3jDK
参数和优化函数被严格定义,以便在TE透过率,偏振对比度和TE透过率均匀误差之间找到平衡。 U<XfO'XJ EqD@o ~IO'"h'w gJwX 参数定义: |,n(9Ix f9_Pn'"I 规划深度为20-200nm,权重1e20 Bf^K?:r"V s]=XAm"4 缝宽10—190nm权重1e20 j4@6`[n: G~&q
优化函数定义: V0,5c`H c yP-$@Ry ——TE效率最小值被最大化(全波段) m#Z9wf] F JT6Be8
——偏振对比度大于50(全波段) &?@U_emLi %y>*9$<pXe ——均匀误差最小化,但对于通用优化函数只具有较低影响。 KTo}xLT
DD7D&@As mDwuJf8} 选择下山简法进行局部优化。 ]x& R=)P s;Z i 左图显示了最小化TE透过率,右图显示了最小化偏振对比度。 2"
v{ {Ho _U&< tQxAZ0B^ 优化好的光路流程图存储在“Scenario_315.01_Optimization_of_Grating_Polarizer_04”中。 g(jn
/Cx ]B&jMj~y& 优化过的参数为: k+@ :+RL I)%bOK] 缝宽:46nm;规划深度200nm;最小化偏振对比度50;TE透过率的均匀误差7% g rQ,J 4yMi9Ri4H 结论: M!VW/vdywL Wa?\W& 偏振分析器允许评估偏振光栅的波长和角独立性。 )cOBP}j+
VD,g3B p Parameter Run允许对参数空间进行全局搜索找到局部参数优化的合适起始点。 '|tmmoY6a: >W:kTS< 最后使用下山简法进行偏振光栅的局部参数优化。 - t4F KxJDAP 54]UfmT%I QQ:2987619807 _!vuDv%
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