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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 2!E@Gbhm5  
    [K4wd%+  
    任务/系统说明 *oca   
    }Rx`uRx\  
    NsY D~n  
    ]F81N(@:F  
    亮点 8,m3]Lg  
    ic]b"ItD  
     GfMCHs   
    !&b wFO>P  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） hEv}g  
     严格分析光栅衍射效率 eg$y,Tx  
     考虑入射光的方向分布 Fy8$'oc  
    Q>[Xm)jr:  
    说明：光源 jt?.g'  
    c>3AR17+5  
    DpZO$5.Ec+  
    *sbZ{{]e  
    说明：光束分束器 p ! _\a  
    CW9vC  
    >*FHJCe  
    nnol)|C{5Y  
    说明：检测透镜系统 4T<4Rb[  
    jQIb :\0#  
    xG|T_|?  
    7Fd`M To  
    说明：微型晶片 !CO1I-yL  
    b!J%s   
    IVblS iFF  
    CW)JS3}W"  
    说明：检测物镜 q*E<~!jL  
    *(>,\8OVf  
    S pqbr@j  
    Gi=s|vt  
    说明：探测器 zA g.,dA  
    j[e<CGZ  
    ! O~:  
    Z|k>)pv@  
    结果：3D光线追迹（只有0级） 4,)EG1  
    pd Fa]  
    QO&{Jx.^[  
    -)Zp"  
    结果：3D光线追迹（所有级） :U!@  
    fC7rs5  
    K\3N_ztu  
    [S<1|hk s(  
    结果：光线追迹 *\!>22*  
    NZW)$c'  
     (O@fgBM  
    %/:0x:ns  
    结果：场追迹 f2f2&|7  
    ><Awk~KR  
     d(X/N2~g  
    "!F%X%/  
    结果：线性偏振光的场追迹 RNMd,?dj  
    %UXmWXF4$  
    rQb=/@-  
     mY 1Gm|  
    文档和技术信息 :H(wW   
    Z&![W@m@0N  
     =Sp+$:q*  
    mQka?_if)  
     `Hp=1a  
    QQ：2987619807 Krw'|<  
     
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