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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 a^i`DrX  
    ZN5\lon|Y  
    任务/系统说明 D:'|poH  
    g;w4:k)U  
    iyrUY  
    My'M ~#kO,  
    亮点 XLp tJ4~v  
    YnuC<y &p  
     ?qYw9XQYL  
    j,eeQ KH  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） vp &jSfQ^  
     严格分析光栅衍射效率 s0v?*GRX  
     考虑入射光的方向分布 HY9H?T  
    j(6:   
    说明：光源 {4ON2{8;4  
    8e)k5[\m  
    BIDmZU9tL  
    A_T-]YQ  
    说明：光束分束器 n@{fqj  
    fm87?RgXD  
    EnA) Rz  
    7J./SBhB  
    说明：检测透镜系统 cEi{+rfZd|  
    `R0>;TdT  
    u-Ct-0  
    =1)yI>2e%}  
    说明：微型晶片 @no]*?Gpa  
    ]ms#*IZ  
    k=H{gt  
    Df02#493  
    说明：检测物镜 o1MI&}r  
    C\dQ6(3}\  
    k!t5>kPSQ  
    ~el#pf~  
    说明：探测器 @)m[: n  
    <|k!wfHL  
    D}px=?  
    3 =@7:4 A  
    结果：3D光线追迹（只有0级） D; H</5#Q  
    [nn/a?Z4S  
    .\X/o!xC  
    RW48>4f/+  
    结果：3D光线追迹（所有级） N+\#k*n?  
    y.JAtsxD  
    5|x&Z/hL  
    t #MU2b  
    结果：光线追迹 )FT~gl%  
    >#*]/t  
     ?RiW:TQ*  
    je9[S_Z:Y  
    结果：场追迹 2,/("lV@0  
    B@e,3:  
     c%>t(ce`Tl  
    lg&"=VXx51  
    结果：线性偏振光的场追迹 ?0hk~8c  
    7 ;|jq39  
    LpaY M d;  
     )9##mUt'}  
    文档和技术信息 idvEE6I@  
    ].pz  
     )"|'=  
    fC.-* r  
     Sq%BfP)a(  
    QQ：2987619807 2$yKa5SaX  
     
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