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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 mK/E1a)AG3  
    KLW>O_+   
    任务/系统说明 C4qK52'2s  
    Ir-QD !!<  
    =1k%T{>  
    q7r b3d  
    亮点 5}Id[%.x  
    *~YdL7f)J  
     \#]C !JQ  
    T*gG <8  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） o>nw~_ H\  
     严格分析光栅衍射效率 ,(-V<>/*.|  
     考虑入射光的方向分布 ]l C2YD}  
    7M _ mR Vh  
    说明：光源 .zl[nx[9"D  
    nW*cqM%+  
    *N4/M%1P  
    tcnO`0moK  
    说明：光束分束器 sVBr6 !v=  
    Dkb`_HI  
    O9zMD8  
    IU5T5p  
    说明：检测透镜系统 0e+#{k  
    9-V'U\}L  
    M 87CP=yc  
    m?4hEwQxf  
    说明：微型晶片 6Q\|8a  
    _WvVF*Q"k  
    LGW:+c  
    f^*Yqa  
    说明：检测物镜 *r[V[9+y-D  
    gKl9Nkd!R  
    l*OR{!3H$  
    *l 4[`7|  
    说明：探测器 =Gu&0f  
    [*5]NNB  
    +p63J  
    zCQP9oK!  
    结果：3D光线追迹（只有0级） NN2mOJ:-  
    4_iA<}>|  
    =R' O5J  
    {J izCUo_'  
    结果：3D光线追迹（所有级） fz`)CWo:  
    nIr`T^c9c  
    q4Wr$T$gs=  
    hrq% {!Z  
    结果：光线追迹 .{c7 I!8  
    [520!JhZY  
     U;WwEta ]  
    O1c:X7lHc  
    结果：场追迹 1P[x.t#  
    zG<<MR/<  
     &PRoT#,  
    (E)hEQ@8  
    结果：线性偏振光的场追迹 xSd&xwP  
    z`t~N  
    {pH#zs4Y  
     YPI,u7-  
    文档和技术信息 fn,hP_  
    C0/^6Lu"o  
     ZSK_Lux>  
    d8vf kV B  
     z2t+1 In,  
    QQ：2987619807 Nj3iZD|  
     
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