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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 Epj  
    \ }xK$$f2,  
    任务/系统说明 F +PIZ%  
    yi<&'L;   
    pg~vteq5  
    3xef>Xv=  
    亮点 g]85[xz  
    Mf7Q+_!  
     Y(GH/jw  
    Pc >$[kT0  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） (A O]f fBU  
     严格分析光栅衍射效率 eO;i1>  
     考虑入射光的方向分布 BM=`zGh"  
    ,\!4 A  
    说明：光源 CN8GeZ-G  
    'c5#M,G~  
    5x?eu n  
    =Xze).g  
    说明：光束分束器 mj5$ 2J  
    uMa: GDh7  
    `M/=_O3  
    -/|O*oZ  
    说明：检测透镜系统 q9o =,[  
    6la# 0U23  
    rt$z&#M  
    1)(p=<$  
    说明：微型晶片 mE)65@3%  
    c_clpMx=  
    9XWF&6w6yf  
    hnZI{2XzBE  
    说明：检测物镜 !iUdej^tx  
    7iu?Q  
    u/!U/|  
    hh}%Z=  
    说明：探测器 hj64ES#x  
    1Lz`.%k`:  
    8+Al+6d|!  
    ;5^ grr@,4  
    结果：3D光线追迹（只有0级） `%;n HQ"  
    nP?=uGqCBq  
    g`)3m,\  
    k$:QpTg[  
    结果：3D光线追迹（所有级） !VpZo*+   
    @z"Zj 3ti  
    !+& NG&1  
    idnn%iO  
    结果：光线追迹 H^xrFXg~z  
    ka{9{/dz3  
     C.L5\"%  
    vM~/|)^0sW  
    结果：场追迹 *E0+!  
    fOiLb.BW  
     C&D]!Zv F  
    Y<3s_  
    结果：线性偏振光的场追迹 ASY uZ  
    ;d G.oUk=  
    8B;`9?CI  
     AKx\U?ei7  
    文档和技术信息 X +;Q=  
    2#_9x7g+  
     :i0xer  
    *7oPM5J|v  
     i_g="^  
    QQ：2987619807 +A W6 >yV`  
     
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