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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 YTQps&mD.  
    7J|&U2}c  
    任务/系统说明 D. Kqc  
    u[")*\CP  
    =X-Tcj?3g  
    J[@um:  
    亮点 Dx-KMiQ,"(  
    $*\L4<(  
    ,O]l~)sr|  
    RJ~ %0  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) +7U  
     严格分析光栅衍射效率 c #lPc>0xb  
     考虑入射光的方向分布 /(?@mnq_  
    +th%enRB  
    说明:光源 MT6/2d  
    X}cZxlqc  
    s+Q;pRZW{  
    (K :]7  
    说明:光束分束器 !%PWig-  
    ,*Z.  
    g%a|q~)  
    S1J<9xqSQ8  
    说明:检测透镜系统 B$vr'U   
    4woO;Gm  
    lA^+Flh  
    1J}8sG2`  
    说明:微型晶片 q; ji w#_  
    6CCbBA  
    wO.iKX;  
    qAY%nA>jO  
    说明:检测物镜 'dJ/RJ~  
    {gsdG-  
    55Gtp\L  
    rwE%G>Vb  
    说明:探测器 @|\R}k%(  
    DmqSQA  
    \or G63T:  
    A],ooiq<  
    结果:3D光线追迹(只有0级) LF*&(NC  
    )ev<7g9*q  
    } JiSmi6o  
    '5KeL3J;  
    结果:3D光线追迹(所有级) e]Fp=*#  
    Kw5Lhc1V  
    D@oCP =m<  
    'h1b1,b~  
    结果:光线追迹 :5fAPK2r<  
    `ln1$  
    ArK]0$T   
    )|bC^{kH!l  
    结果:场追迹  n_nl{  
    sOU_j:A80;  
    &M />tE Z)  
    !j:`7PT\  
    结果:线性偏振光的场追迹 kAA>FI6  
    OJAIaC\  
    PVOx`<ng  
    qk/:A+  
    文档和技术信息 9uk<&nqx  
    SHVWwoieT  
    :9t4s#.  
    >rsqH+oL  
    ?sz)J 3  
    QQ:2987619807 R&f^+0%f  
     
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