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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 ]&o$b]  
    2i)^ !c  
    任务/系统说明 =ElO?9&  
    Q 1U\D  
    _zR+i]9   
    ~uj#4>3T  
    亮点 W =D4r  
    T-'OwCB1q  
     y`L>wq,KU  
    y%&q/tk  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） .N,bIQnj  
     严格分析光栅衍射效率 MU($|hwiL  
     考虑入射光的方向分布 Q7HRzA^-  
    Uf1!qP/H?  
    说明：光源 ~k"=4j9  
    B al`y  
    aHV;N#Lx3  
    ?k+xSV  
    说明：光束分束器 >Rl"  
    Jz\%%C  
    qSM|hHDo)  
    zN[hkmh  
    说明：检测透镜系统 JYMiLph<  
    DEBB()6,  
    I&fozO   
    Ab~3{Q]#  
    说明：微型晶片 uFX#`^r`  
    {dhXIs  
    1rNzJ;'  
    WQx?[tW(U  
    说明：检测物镜 B?OFe'*  
    [T|aw1SoN  
    2Sle#nw3  
    /}((l%UE.  
    说明：探测器 E:,/!9n  
    ?so=;gh  
    kGH}[w  
    ] vz%iv_  
    结果：3D光线追迹（只有0级） ,cXD.y  
    ADz ^\  
    Z|&MKG24  
    fnpYT:%fG  
    结果：3D光线追迹（所有级） M  f}~{+  
    272q1~&  
    9)D6Nm  
    B+$%*%b  
    结果：光线追迹 =h-U  
    -{KQr1{5UM  
     %Si6]3-^@  
    OstQqV%@  
    结果：场追迹 L\37xJo  
    C>]0YO k2  
     k)i3   
    kq?Ms|h  
    结果：线性偏振光的场追迹 $CRm3#+ ~  
    L,HhbTRca  
    n|6Ic,:[  
     7dN*lks  
    文档和技术信息 3BzNi'  
    mWv3!i;G<s  
     zZ:>do\2  
    ?L x24*5%  
     kAKK bmE  
    QQ：2987619807 e- ~N"  
     
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