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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 `#-P[q<v-  
    ?ULo&P[  
    任务/系统说明 =qy=-j]  
    hwN?/5  
    R"MRnr_4K  
    :,b iyJt  
    亮点 1?*  
    vsWHk7 9  
    )Or  .;  
    2QpHvsl_  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) %?^6).aEK  
     严格分析光栅衍射效率 G 0O#/%%  
     考虑入射光的方向分布 NLPkh,T:  
    \#-W <  
    说明:光源 #GDe0 8rOw  
    + Q=1AXe  
    $D v\ e  
    r;L>.wl*I  
    说明:光束分束器 -Y Bd, k3  
    gBh;=vOD  
    :c9U>1`g&  
    3p2P= T  
    说明:检测透镜系统 V7G7&'  
    lv vs%@b>  
    HHX-1+L  
    Y)N-V ]5L  
    说明:微型晶片 @';B_iQ  
    1&;QyTN  
    -/{ 4Jf Wf  
    f7h*Vu`>  
    说明:检测物镜 mWR4|1(  
    9% l%  
    XNQAi (!GS  
    uZfnzd)c  
    说明:探测器 V-n&oCS+f  
    Xc"&0v%;#  
    %sHF-n5P  
    U9D!GKVp  
    结果:3D光线追迹(只有0级) uVzFsgBp  
    <E\$3Ym9  
    R4ht6Vm3g)  
    yaq'Lt`  
    结果:3D光线追迹(所有级) iyj+:t/  
    '47P|t  
    Ig3;E+*>  
    b'6- dU%  
    结果:光线追迹 8-y{a.,u.  
    7j nIv];i  
    x.8TRMk^  
    E0 `Lg c  
    结果:场追迹 meN2ZB?Y  
    *@d&5  
    J|'7_0OAx  
    G8Nt 8U~  
    结果:线性偏振光的场追迹 +w=AJdc  
    asY[8r?U  
    cZ)}LX  
    DjSbyXvrg  
    文档和技术信息 P!"&%d  
    OKF tl  
    )(y) A[  
    uV 7BK+[O  
    /-bO!RTwf  
    QQ:2987619807 r}uz7}z %"  
     
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