-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-17
- 在线时间1888小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 j[G u5b|#&-mX 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Ma']?Rb` g63(E,;;J 建模任务 J7Hl\Q[D1 @&3EJ1 i0kak`x0 元件倾斜引起的干涉条纹 Q}K"24`= G3vxjD<DMW P90yI 元件移位引起的干涉条纹 )|R)Q6UJ li'YDtMKCY J~zUp(>K 文件信息 ;oKZ!ND Sc1 8dC0 v,{
:Ez(H
QQ:2987619807
|