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    [推荐]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-08-06
    摘要 cFr `9A\-n  
     l<:\w.Gl  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Z6 E_Y?  
    J$i.^|hE/  
    建模任务 qK]Om6 a~  
    dP=,<H#]m  
    X<&Y5\%F  
    元件倾斜引起的干涉条纹 xB5QM #w\  
    ;Q0H7)t:  
    fndbGbl8p  
    元件移位引起的干涉条纹 N 5.kDT  
    X=V2^zrt  
    F8|m i`f-  
    文件信息 e'r-o~1eN  
     BT"n;L?[  
    >1$Vh=\OI  
    QQ：2987619807
     
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