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摘要 H<dm;cU [BmondOx 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 si0jXue~j\ N(/DC)DJg 建模任务 hNSV}~h mLKwk6I qky{]qNW 元件倾斜引起的干涉条纹 n(-XI&Kn
,!PNfJA2 mbSJ}3c" 元件移位引起的干涉条纹 CQ6Z[hLWF O zY&^:> q48V|6X'q 文件信息 A .*}< rn U2EL ad }^Dj/
QQ:2987619807
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