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摘要 zS< jd~ *UW=Mdt 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 MZ+e}|!4, >E,U>@+ 建模任务 .qA{x bu GjB]KA^ +\"-P72vjk 元件倾斜引起的干涉条纹 gKg-O tb?YLxMV <ER'Ed
元件移位引起的干涉条纹 7a=S i*eAdIi s6o>m*{ 文件信息 na^sBq?\ VYw%01# _owjTo}
QQ:2987619807
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