-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-17
- 在线时间1888小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 -+Axa[,5= )D{L<.i_ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 }3E@]"<cVR (+`pEDD{X 建模任务 *T-+Pm-Cq 6}6;%{p"Gu oM G8?p 元件倾斜引起的干涉条纹 Iojyku\W. |L}zB, v8Vw.Ce`f 元件移位引起的干涉条纹 qsOA(+ZP V7U&8UPb #k&"Rv;, 文件信息 ^I4'7]n- E
( Bi;D d?.
QQ:2987619807
|