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    [推荐]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-08-06
    摘要 Jtd@8fVi  
     pvI(hjMYPk  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ,^26.p$  
    S4qh8c  
    建模任务 bjm`u3 A  
    >, 234ab=d  
    }h +a8@  
    元件倾斜引起的干涉条纹 @tEVgyN  
    R>/M>*C  
    qt^%jIv  
    元件移位引起的干涉条纹 w?jmi~6  
    Yo| H`m,  
    UM|GX  
    文件信息 P^rSpS9  
     X2 M<DeF:  
    K ANE"M   
    QQ：2987619807
     
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