扫描电子显微镜SEM应用

发布:探针台 2020-05-12 10:28 阅读:1166
扫描电子显微镜SEM应用范围: t&Eiz H$  
      1、材料表面形貌分析,微区形貌观察 -j]c(Q MA]  
      2、各种材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 88,hza`#V  
      3、各种薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 3<"j/9;K'  
(]T[n={Y  
 6?*Do  
扫描电子显微镜样品制备比透射电镜样品制备简单,不需要包埋和切片。 )B"{B1(  
样品要求: A[^#8evaK  
样品必须是固体;满足无毒,无放射性,无污染,无磁,无水,成分稳定要求。 j5" L  
制备原则: >r7PK45.K  
表面受到污染的试样,要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗,然后烘干; v%AepK&  
新断开的断口或断面,一般不需要进行处理,以免破坏断口或表面的结构状态; bf+C=A)s0  
要侵蚀的试样表面或断口应清洗干净并烘干; m"/..&'GC  
磁性样品预先去磁; 1fMV$T==K  
试样大小要适合仪器专用样品座尺寸。 EyVu-4L:#  
常用方法: {<@ud0A:\  
块状样品 KpLaQb  
块状导电材料:无需制样,用导电胶把试样粘结在样品座上,直接观察。 fdX|t "oz  
块状非导电(或导电性能差)材料:先使用镀膜法处理样品,以避免电荷累积,影响图像质量。 $Wj{B@k  
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