失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务： RH,(8.&>r  
原子发射光谱 ICP-OES K5x&:z  
气相色谱质谱 GC/MS "FC;k >m  
X荧光能谱 =bUVGjr%96  
XRF 2?LZW1
4$d  
原子吸收 AAS xACAtJ'gc  
紫外分光 UV 'C6K\E  
离子色谱 IC V Iof4?i  
等离子质谱 ICP-MS CtbmX)vE  
显微傅利叶红外 xbex6i"ZE  
FTIR L+@RK6
dq  
双晶X衍射分析仪 DCXRD $CaF"5}?Ke  
以及其它各类分析检测仪器... W M/pP?||
 
温度冲击 Thermal Shock f=v+D0K$n  
高温高湿 N|eus3\E  
TH !+T9NqDv[  
老化试验 Burn-in ZHxdrX)  
紫外辐射 UV Oven g/+P]c6/  
太阳氙灯 Solar/Xenon E Kks8  
盐雾试验 Salt Mist I:s#,!>  
振动试验 Bb];qYuCO  
Vibration 4LYeacL B  
跌落 Shock YPAMf&jEF  
回流敏感度 DSyfF&uC  
MSL P@'<OI  
耐磨试验、弯折试验... ,R=Mr}@u
 
声学扫描 SAM u\zRWX  
X-射线透射 X-Ray |+//pGx  
俄歇电子成份分析 AES Oy$*ZG)  
光辐射电子显微镜 kUAjQ>  
EMMI x|l[fdm5  
有限元模拟与分析 FEA lz 
X0B&:  
透射电镜 TEM yG?,8!/]  
聚焦离子束 FIB W:{1R&$l  
原子力显微镜 AFM XW6Ewrm=vT  
热力学分析 ^B2>lx\n  
TMA/DMA .63:
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集成电路分析仪... nG&=$7x^  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS ,Z*?"
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金相切片制样 Cross section UJ1Ui'a(!!  
染色分析 Dye and }6}Gj8Nb  
pry Hep]jxp+  
开封制样 Decapsulation m4(
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激光开封仪 Laser Decap Z
^9;sb,x  
光学显微镜 Optical ']1j Mn  
Microscope msS5"Qr  
拉力剪切力 Pull/Shear tester g"|QI=&_J  
可焊性试验机 Solderbility tester KumbG>O  
静电/过电分析仪 uW!',"0ER  
ESD/EOS D`3m%O(?  
tester y4s]*?Wz  
绝缘/开路电阻... 7Zp'}Om<I  
认证、检测与工艺分析范围： yhQv $D,^f  
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 <R>qOX8  
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； TFWV(<  
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； po+>83/!oq  
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 #/t^?$8\\  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； #(-V^T