OM分析失效分析

主要用途 ol`]6"Sc  
)_bXKYUX*0  
样品外观、形貌检测。 =:a3cr~  
2? !b!  
;yk@`<  
性能参数 >{GC@Cw  
u4+VG5.rhT  
a)总放大倍数为50x-1000x； |u;5|i  
'inWV* P*g  
b)目标Z空间：0-25mm； `VBjH]$  
SxT:k,ji  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； pbm4C0W}  
T,?^J-h^  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 c yN_Sg  
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e[e2X<&0RT  
应用范围 @&M$`b ^  
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。