样品制样失效分析

主要用途 C,T9xm  
|_ZD[v S  
样品外观、形貌检测。 a'=C/ s+  
<20rxOEnf  
VU
6nu4  
性能参数 #hvLv  
cz<8Kb/XV  
a)总放大倍数为50x-1000x； LnZzY0  
ip6$Z3[)  
b)目标Z空间：0-25mm； vM@2C'  
wG6@.;3  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； IH|PdVNtg  
%HOMX{~}#  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 mv9k_7<  
wT/TQEgz  
z<2!|  
,Y 1&[  
应用范围 ivL}\~L  
gx+bKGB`  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。