[分享]VirtualLab：马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

摘要 uI?Z_  
n YUFRV$  
C"**>OGe  
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 =$gBWS  
W]7<PL*u  
建模任务 0?/gEr  
R?:Q=7K  
< B]qqqP  
元件倾斜引起的干涉条纹 1?|"33\03R  
5m0lk|`  
元件移位引起的干涉条纹 U*Y]cohh  
?G',Qtz<K  
@M<qz\ [  
文件信息 \ZV>5N3hS  
LkzA_|8:D  
I9+h-t  
更多阅览 )mwwceN  
-  Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration |3B<;/v5  
-  Fizeau Interferometer for Optical Testing <^5$))r  
`|AH3v1