散射特性BSDF测量

散射特性用来描述入射杂散光在光机件表面上如何传播和扩散，是进行精确杂散光仿真分析的基础。如果表面散射模型描述不准确，则杂散光在光学系统中的传播路径与实际存在一定甚至很大的偏差，从而导致分析结果准确性和可靠性不高。因此，需要实测样片的散射特性以满足高精度杂散光分析需求。 vLh,dzuo  
该散射特性测量仪具有角度分辨率高，测试灵敏度高，测试动态范围大等特点，其主要技术指标为： S.NLxb/
 
u  可测波长：405/532/640nm； sme!!+Rd  
u  测量精度：优于0.2%； OEs!H]v  
u  重复性精度：优于0.1%； TYgn X  
u  角度精度：优于0.1°； QfsTUAfR  
u  动态范围：˃1013； D(Yq<%Q  
u  等效噪声BSDF：˂10-8 sr-1。 WAp#[mW.fx  
ALBATROSS-TT散射特性测量仪主要用于光学系统光机件表面散射特性测量，包括双向反射分布函数（BRDF）、双向透射分布函数（BTDF）和半球空间积分散射TIS测量。还可用于光学元件表面的反射率和透过率测量（绝对测量）。 44_CT?t<