回帖：新型双样本多模态 X 射线成像技术 DSI，可单次扫描对两个重叠样本成像，无需额外扫描即可分离重建图像，有望将扫描效率提高一倍。该技术兼顾吸收、相位对比和暗场信息，已在生物样本与微电子器件验证，未来可应用于工业检测、材料科学、生命科学和三维成像。