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摘要 I&\4C.\> x?=B\8m qRl/Sl#F Gnv!]c&S>l 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Gk 6fO [zx|eG<&- 建模任务 +f$Z-U1H/ gmDR{loX j.B>v\b_3 x=vK
EyS@ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 x{?sn N6q5`Ry j/'
g$ KC]tY9 FK 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 gi1j/j7 lvPpCAXY B/G3T
u uG om>VQ3 文件信息 8,y{q9O 6%UY1Q.? zb?kpd}r bs P6\'\4 B\/7^{i5 4i`S+`# 2+Zti8 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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