硅光芯片测试解决方案

随着通信技术的发展，光器件的尺寸越来越小，集成度越来越高，信息容量要求越来越大。因此，光器件、光模块的各种特性参数的控制尤为重要，急需高精度，高分辨率的测试手段。LUNA基于OFDR原理的测试系统由于在短距离光网络，以及器件级测试中能够解决行业内急需的测试难题，得到了广泛使用。空间分辨率高达20微米，能够准确识别和定位具体损耗、弯曲、微裂纹、断裂、熔接等事件点，还能够精准测量器件的光谱响应，插损，回损，长度等。提高光器件的研发以及验证周期。同时由于测量时间小于0.17s，可以满足产线庞大的生产测试量。 K kW;-{c