2012.09.26(北京)TracePro于杂散光分析快速上手培训课程

y=sGe!^  
G*8GGWB^a  
TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 L2z2}U=<  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象，并在课程中引入基本的TracePro Macro Scheme t}p@:'  
Language，帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。 +C{p%`<  
6LUC!Sh  
课程主要针对光学设计从业人员，在课程结束后，能达到以下三方面的效果：能使用软件正确有效的设定模型的光学性质，计算和分析结果，对模型进行优化分析设计。 E+xuWdp.*  
课程内容精彩丰富，相信透过深入浅出的教学方式，让您快速掌握TracePro于杂光分析与优化的要领！ <,%:   
-pb&-@Hul  

}ZOFYu0f   时间	o4^Fo p   课程内容
09:00~10:20 (80分钟)	z4U9n'{   杂散光分析： OEgI_=B   1)     TracePro针对杂散光的分析   v> z@   2)     TracePro 操作练习
10:30~11:50 （80分钟）	%Kb9tHg   TracePro中的模型分析： d f*w>xS   1)     ABg BSDF模型 xK%=   2)     重点取样，点源辐照度透过率
12:00~13:00	pd@;b5T   休息
13:00~14:20 (80分钟)	5F $V`kYT   实例 ： ra7uU*   1)     Lens Demo分析，并导入位图光源 >v5k{Cbp0   2)     导入BSDF数据，建立ABg模型
14:30~15:50 (80分钟)	u: gtOjk2   1)     重点取样例子：手动，自动 fZWGn6$    2)     衍射例子 FH5ql~   3)卡塞格伦望远镜例子
16:00~17:20 (80分钟)	RMYP"   1)     宏记录器的使用 C*70;:b   2)     scheme的编程使用 `iShJz96   3)     Q&A

bha?eN  
./-JbW  
报名详情请参照: http://www.apic.com.cn/shownews.asp?id=112 hZ\+FOx;  
L;t)c  
请填好此表传真至021-64052327或e-mail: candy@apic.com.cn