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  • CODE V近轴光线追击(FIO)

    作者:薛金娜 来源:欧熠光电 时间:2019-01-25 17:16 阅读:10852 [投稿]
    近轴光线是指入射到近轴球面上并与光轴(z轴)的夹角很小的光线。近轴光线追迹简化了数学计算模型,使得光线追迹变得简单。

    近轴光线是指入射到近轴球面上并与光轴(z轴)的夹角很小的光线。近轴光线追迹简化了数学计算模型,使得光线追迹变得简单。

    CODE V软件关于近轴光线追迹的功能:

    近轴光线追迹功能(FIO)可以帮助你执行一阶光线追迹。

    1阶数据功能(FIR)可以帮助你列出一阶参数。

    可以通过生成一阶参数列表和进行一阶光线追迹来执行一阶分析:

    生成一阶参数列表,在菜单栏中选择:显示>列出镜头数据>1阶数据。此时,一阶参数将会在一个文本输出窗口中列出,并标记为“一阶数据列表”。这个文本不可以编辑,只作为显示之用。

    执行一阶光线追迹,在菜单栏选择:分析 >诊断>近轴光线追迹。屏幕将会显示近轴光线追迹对话框,然后在对话框中根据需求定义开始表面,最终表面以及变焦位置。

    关于一阶分析你需要知道的事

    列出1阶数据(FIR命令)

    在菜单栏选择:显示>列出镜头数据>1阶数据,或者直接使用FIR(1阶数据)命令,可以得到各种一阶数据列表。对于有限共轭透镜(THI SO <1E10)的一阶数据列表,列出了其在无限共轭和常用共轭下的一阶属性。列表会自动列出每一个变焦位置的数据。如果输入FIR命令,无需输入其他限定符或者数据。

    如果列出了所有镜头的数据(使用LIS命令,或者通过菜单栏:显示>列出镜头数据>所有镜头数据),那么FIR输出的数据将包含在列表内。

    执行一阶光线追迹(FIO命令)


    在菜单栏选择:分析 >诊断>近轴光线追迹,或者使用FIO(一阶光线追迹)命令可执行轴上边缘光线和全视场主光线的近轴光线追迹。默认情况下,软件列出从物面到像面上的所有表面的输出;你也可以使用表面范围限定符限定所需表面的输出。

    FIO的输出取决于是否在系统数据窗口设置了将X-Z平面用于1阶计算和解(XZF)的标志,如上图所示。默认设置是不选这个复选框,光线追迹在Y-Z平面进行。如果选中这个复选框,光线追迹则是在X-Z平面进行。注意,无论XZF的状态如何,使用的物高是最后视场从物原点到物点对角线的距离。例如,将视场规格(对于有限共轭系统)设置为:

    XOB 0 0 0

    YOB 0 5 10

    在这种情况下,近轴主光线的数据对应的物高为10。如果视场规格是:

    XOB 0 0 0

    YOB 0 10 5

    那么近轴主光线的数据对应的物高为5(最后一个视场),即使第二个视场要大于最后一个视场。如果视场规格是:

    YOB 0 5 10

    XOB 0 5 10

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